深入理解理解功率MOSFET的RDSON
上傳時間: 2013-10-12
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模塊電源的電氣性能是通過一系列測試來呈現(xiàn)的,下列為一般的功能性測試項目,詳細(xì)說明如下: 電源調(diào)整率(Line Regulation) 負(fù)載調(diào)整率(Load Regulation) 綜合調(diào)整率(Conmine Regulation) 輸出漣波及雜訊(Ripple & Noise) 輸入功率及效率(Input Power, Efficiency) 動態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載(Dynamic or Transient Response) 起動(Set-Up)及保持(Hold-Up)時間 常規(guī)功能(Functions)測試 1. 電源調(diào)整率 電源調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓變化時提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。測試步驟如下:于待測電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機穩(wěn)定后,分別于低輸入電壓(Min),正常輸入電壓(Normal),及高輸入電壓(Max)下測量并記錄其輸出電壓值。 電源調(diào)整率通常以一正常之固定負(fù)載(Nominal Load)下,由輸入電壓變化所造成其輸出電壓偏差率(deviation)的百分比,如下列公式所示: [Vo(max)-Vo(min)] / Vo(normal) 2. 負(fù)載調(diào)整率 負(fù)載調(diào)整率的定義為開關(guān)電源于輸出負(fù)載電流變化時,提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。測試步驟如下:于待測電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機穩(wěn)定后,測量正常負(fù)載下之輸出電壓值,再分別于輕載(Min)、重載(Max)負(fù)載下,測量并記錄其輸出電壓值(分別為Vo(max)與Vo(min)),負(fù)載調(diào)整率通常以正常之固定輸入電壓下,由負(fù)載電流變化所造成其輸出電壓偏差率的百分比,如下列公式所示: [Vo(max)-Vo(min)] / Vo(normal) 3. 綜合調(diào)整率 綜合調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化時,提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。這是電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,此項測試系為上述電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,可提供對電源供應(yīng)器于改變輸入電壓與負(fù)載狀況下更正確的性能驗證。 綜合調(diào)整率用下列方式表示:于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化下,其輸出電壓之偏差量須于規(guī)定之上下限電壓范圍內(nèi)(即輸出電壓之上下限絕對值以內(nèi))或某一百分比界限內(nèi)。 4. 輸出雜訊 輸出雜訊(PARD)系指于輸入電壓與輸出負(fù)載電流均不變的情況下,其平均直流輸出電壓上的周期性與隨機性偏差量的電壓值。輸出雜訊是表示在經(jīng)過穩(wěn)壓及濾波后的直流輸出電壓上所有不需要的交流和噪聲部份(包含低頻之50/60Hz電源倍頻信號、高于20 KHz之高頻切換信號及其諧波,再與其它之隨機性信號所組成)),通常以mVp-p峰對峰值電壓為單位來表示。 一般的開關(guān)電源的規(guī)格均以輸出直流輸出電壓的1%以內(nèi)為輸出雜訊之規(guī)格,其頻寬為20Hz到20MHz。電源實際工作時最惡劣的狀況(如輸出負(fù)載電流最大、輸入電源電壓最低等),若電源供應(yīng)器在惡劣環(huán)境狀況下,其輸出直流電壓加上雜訊后之輸出瞬時電壓,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不超過輸出高低電壓界限情形,否則將可能會導(dǎo)致電源電壓超過或低于邏輯電路(如TTL電路)之承受電源電壓而誤動作,進(jìn)一步造成死機現(xiàn)象。 同時測量電路必須有良好的隔離處理及阻抗匹配,為避免導(dǎo)線上產(chǎn)生不必要的干擾、振鈴和駐波,一般都采用雙同軸電纜并以50Ω于其端點上,并使用差動式量測方法(可避免地回路之雜訊電流),來獲得正確的測量結(jié)果。 5. 輸入功率與效率 電源供應(yīng)器的輸入功率之定義為以下之公式: True Power = Pav(watt) = Vrms x Arms x Power Factor 即為對一周期內(nèi)其輸入電壓與電流乘積之積分值,需注意的是Watt≠VrmsArms而是Watt=VrmsArmsxP.F.,其中P.F.為功率因素(Power Factor),通常無功率因素校正電路電源供應(yīng)器的功率因素在0.6~0.7左右,其功率因素為1~0之間。 電源供應(yīng)器的效率之定義為為輸出直流功率之總和與輸入功率之比值。效率提供對電源供應(yīng)器正確工作的驗證,若效率超過規(guī)定范圍,即表示設(shè)計或零件材料上有問題,效率太低時會導(dǎo)致散熱增加而影響其使用壽命。 6. 動態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載 一個定電壓輸出的電源,于設(shè)計中具備反饋控制回路,能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由于實際上反饋控制回路有一定的頻寬,因此限制了電源供應(yīng)器對負(fù)載電流變化時的反應(yīng)。若控制回路輸入與輸出之相移于增益(Unity Gain)為1時,超過180度,則電源供應(yīng)器之輸出便會呈現(xiàn)不穩(wěn)定、失控或振蕩之現(xiàn)象。實際上,電源供應(yīng)器工作時的負(fù)載電流也是動態(tài)變化的,而不是始終維持不變(例如硬盤、軟驅(qū)、CPU或RAM動作等),因此動態(tài)負(fù)載測試對電源供應(yīng)器而言是極為重要的。可編程序電子負(fù)載可用來模擬電源供應(yīng)器實際工作時最惡劣的負(fù)載情況,如負(fù)載電流迅速上升、下降之斜率、周期等,若電源供應(yīng)器在惡劣負(fù)載狀況下,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過高激(Overshoot)或過低(Undershoot)情形,否則會導(dǎo)致電源之輸出電壓超過負(fù)載組件(如TTL電路其輸出瞬時電壓應(yīng)介于4.75V至5.25V之間,才不致引起TTL邏輯電路之誤動作)之承受電源電壓而誤動作,進(jìn)一步造成死機現(xiàn)象。 7. 啟動時間與保持時間 啟動時間為電源供應(yīng)器從輸入接上電源起到其輸出電壓上升到穩(wěn)壓范圍內(nèi)為止的時間,以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,啟動時間為從電源開機起到輸出電壓達(dá)到4.75V為止的時間。 保持時間為電源供應(yīng)器從輸入切斷電源起到其輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時間,以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,保持時間為從關(guān)機起到輸出電壓低于4.75V為止的時間,一般值為17ms或20ms以上,以避免電力公司供電中于少了半周或一周之狀況下而受影響。 8. 其它 在電源具備一些特定保護(hù)功能的前提下,還需要進(jìn)行保護(hù)功能測試,如過電壓保護(hù)(OVP)測試、短路保護(hù)測試、過功保護(hù)等
標(biāo)簽: 模塊電源 參數(shù) 指標(biāo) 測試方法
上傳時間: 2013-10-22
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峰值電流模式的單片式DCDC變換器設(shè)計
上傳時間: 2014-12-24
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DCDC模塊電源額定功率與封裝的選擇與應(yīng)用
上傳時間: 2013-10-08
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SM8502是應(yīng)用于小功率AC/DC開關(guān)電源系統(tǒng)的高性能離線式功率開關(guān)。內(nèi)置高壓功率三極管,采用原邊反饋控制技術(shù),在全電壓輸入范圍內(nèi)實現(xiàn)輸出恒壓精度小于±5℅,恒流精度小于±10℅。并且可使系統(tǒng)節(jié)省光耦和431等元件以降低成本。芯片集成過流保護(hù)、過壓保護(hù)、欠壓保護(hù)、過溫保護(hù)等完善的保護(hù)功能以提高系統(tǒng)的可靠性。SOP8、HDIP4的封裝形式。
標(biāo)簽: 8502 SM 性能 功率開關(guān)
上傳時間: 2013-10-30
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IGBT和MOSFET功率模塊應(yīng)用手冊
標(biāo)簽: MOSFET IGBT 功率模塊 應(yīng)用手冊
上傳時間: 2013-11-19
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開關(guān)功率器件的測試示波器
標(biāo)簽: 開關(guān)功率器件 測試 示波器
上傳時間: 2013-10-14
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提出了一種固定開關(guān)頻率的三電平PWM整流器的直接功率控制方法。該方法基于空間電壓矢量調(diào)制,實現(xiàn)了動態(tài)過程中有功功率和無功功率的解耦控制。
標(biāo)簽: PWM 開關(guān)頻率 三電平 功率控制
上傳時間: 2013-11-07
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對不穩(wěn)定風(fēng)和陣風(fēng)進(jìn)行風(fēng)速預(yù)測,以平穩(wěn)風(fēng)為例,根據(jù)實際風(fēng)電功率和對應(yīng)時序風(fēng)速的關(guān)系建模,得到了風(fēng)電功率隨風(fēng)速變化的各類模型下的擬合參數(shù)。為了提高風(fēng)電功率的預(yù)測精度,通過從分段函數(shù)和整體建模兩個角度比較各種模型的準(zhǔn)確程度,得到了適宜于作為風(fēng)電功率特性曲線的函數(shù)模型。
標(biāo)簽: 灰色模型 功率預(yù)測 風(fēng)速 風(fēng)電
上傳時間: 2013-10-08
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西安誼邦電子 公司引進(jìn)美國的先進(jìn)半導(dǎo)體測試技術(shù),在此基礎(chǔ)上研制生產(chǎn)了YB6000系列半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng),該測試系統(tǒng)擁有功率大、速度快、精度高、測試種類全等技術(shù)特點,各項技術(shù)指標(biāo)均達(dá)到國際領(lǐng)先水平。其雄厚的技術(shù)實力,多年的開發(fā)產(chǎn)品經(jīng)驗和獨特嚴(yán)謹(jǐn)?shù)脑O(shè)計方案使誼邦電子YB系列測試系統(tǒng)性能更加超群,品質(zhì)更為可靠穩(wěn)定。誼邦電子研發(fā)技術(shù)涉及高端集成電路測試、半導(dǎo)體分立器件測試和各種客戶產(chǎn)品測試等領(lǐng)域。產(chǎn)品主要應(yīng)用于軍工、汽車、飛機、船舶制造、能源等行業(yè)領(lǐng)域。 西安誼邦憑借較強的技術(shù)實力和完善的科學(xué)管理,能夠給用戶提供完善的售前售后技術(shù)支持。科技創(chuàng)新、服務(wù)無限,是我們工作的宗旨。
標(biāo)簽: IGBT 測試 電子 半導(dǎo)體測試
上傳時間: 2013-10-30
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