在cypress單晶片上實(shí)驗(yàn)EEPROM 的測(cè)試程式
標(biāo)簽： cypress EEPROM 晶片 程式
上傳時(shí)間： 2014-01-09
上傳用戶：D&L37
用pascal寫的jpeg codec, 測(cè)試過的
標(biāo)簽： pascal codec jpeg
上傳時(shí)間： 2016-07-11
上傳用戶：wl9454
身份證號(hào)碼的最後一碼為檢查碼，用於確認(rèn)號(hào)碼是否正確，此檢查碼運(yùn)算規(guī)則
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2016-07-25
上傳用戶：busterman
股市分析K線,測(cè)試版本,可以研究修正,勿用於商業(yè)販賣
標(biāo)簽： 分 版本 正 商
上傳時(shí)間： 2014-01-04
上傳用戶：edisonfather
MicroShip IIC 使用的範(fàn)例程式 , 測(cè)試成功
標(biāo)簽： MicroShip IIC 程式
上傳時(shí)間： 2013-12-17
上傳用戶：zxc23456789
MicroShip CAN Bus 範(fàn)例 , 測(cè)試成功 , 新版的喔
標(biāo)簽： MicroShip CAN Bus
上傳時(shí)間： 2014-01-27
上傳用戶：tonyshao
這是用 PIC 寫的利用感應(yīng)大門轉(zhuǎn)速偵測(cè)大門是否碰到障礙物
標(biāo)簽： PIC
上傳時(shí)間： 2013-12-08
上傳用戶：aig85
davincievm 6446 記憶體DDR撿測(cè)
標(biāo)簽： davincievm 6446 DDR
上傳時(shí)間： 2016-08-09
上傳用戶：xlcky
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
FFT代原碼為C++需要測(cè)過才能用，所有檔案階完整
標(biāo)簽： FFT
上傳時(shí)間： 2016-08-17
上傳用戶：zhanditian
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