從 Mentor Graphics 的自動測試圖形生成（ATPG）工具 FastScan的
測試文檔中提取出測試電路（CUT）的測試模式，生成便于對應壓縮算法的文件
格式。 本文中， 給出了 2 種壓縮測試模式的方法， 一種是基于統(tǒng)計的哈夫曼編碼，
一種是基于差分運算的Golomb 編碼。本次畢業(yè)設計中，在熟悉Mentor Graphics
ATPG工具 FastScan的基本功能和其主要的測試模式輸出文件的格式的基礎上，
實現(xiàn)其中測試結(jié)構(gòu)和測試模式數(shù)據(jù)的分析提取， 并且在掌握典型的測試模式壓縮
算法的思想以及 C/C++開發(fā)環(huán)境的前提下，選擇或綜合相關的優(yōu)化壓縮算法，針
對測試結(jié)構(gòu)信息，實現(xiàn)測試模式數(shù)據(jù)的壓縮，及軟件的基本圖形化操作和結(jié)果報
告界面。
標簽：
Graphics
FastScan
Mentor
ATPG
上傳時間：
2017-08-17
上傳用戶：bcjtao
