OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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FFT代原碼為C++需要測過才能用，所有檔案階完整
標簽： FFT
上傳時間： 2016-08-17
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常用算法的C程序。主要內容包括多項式的計算、復數運算、隨機數的產生、矩陣運算、矩陣特征值與特征向量的計算、線性代數方程組的求解、非線性方程與方程組的求解、插值與逼近、數值積分、常微分方程組的求解、數據處理、極值問題的求解、數學變換與濾波、特殊函數的計算、排序和查找。
上傳時間： 2016-08-31
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上傳時間： 2013-12-26
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上傳時間： 2014-06-11
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上傳時間： 2016-08-31
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上傳時間： 2013-12-18
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上傳時間： 2014-01-13
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上傳時間： 2014-01-01
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上傳時間： 2013-12-15
上傳用戶：徐孺
