?? 應(yīng)力測試技術(shù)資料

?? 資源總數(shù):12732
?? 技術(shù)文檔:1
?? 源代碼:21151
?? 電路圖:1
【應(yīng)力測試】一般是指在建構(gòu)筑物施工過程中,如鋼結(jié)構(gòu)安裝、卸載、改造、加固,混凝土澆筑等過程,采用監(jiān)測儀器對受力結(jié)構(gòu)的應(yīng)力變化進行監(jiān)測的技術(shù)手段,在監(jiān)測值接近控制值時發(fā)出報警,用來保證施工的安全性,也可用于檢查施工過程是否合理。

?? 應(yīng)力測試熱門資料

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AEC-Q100是AEC的第一個標準,是由美國汽車電子協(xié)會AEC所制定的規(guī)范,AEC-Q100于1994年6月首次發(fā)表,經(jīng)過了十多年的發(fā)展,AEC-Q100已經(jīng)成為汽車電子系統(tǒng)的通用標準。對于汽車電子元器件來說AEC-Q100是最常見的應(yīng)力測試(Stress Test)認證規(guī)范。AEC-Q100主要...

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本文件包括了一系列應(yīng)力測試失效機理、 最低應(yīng)力測試認證要求的定義及集成電路認證的參考測試條件。 這些測試能夠模擬跌落半導(dǎo)體器件和封裝失效, 目的是能夠相對于一般條件加速跌落失效。 這組測試應(yīng)該是有區(qū)別的使用,每個認證方案應(yīng)檢查以下: a、任何潛在新的和獨特的失效機理;b、任何應(yīng)用中無顯現(xiàn)但測試或條件...

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本文件包含了離散半導(dǎo)體元件(如晶體管,二極管等)最低應(yīng)力測試要求的定義和參考測試條件.使用本文件并不是要解除供應(yīng)商對自己內(nèi)部認證項目的責任性,此外此文件并不《基于離散半導(dǎo)體元件應(yīng)力測試認證的失效機理》本文件包含了離散半導(dǎo)體元件(如晶體管,二極管等)最低應(yīng)力測試要求的定義和參考測試條件.使用本文件并不...

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一.實驗?zāi)康模?1.加深理解材料的彈塑性過程,材料進入塑性后的性態(tài)與卸載后的殘余應(yīng)力分布情況。 2.X射線法與電測法相結(jié)合。用電測法觀察試件加、卸載時的應(yīng)力、應(yīng)變情況,用X射線法進行表面應(yīng)力的測定。通過自行制定實驗方案(貼片、布線、測試等),分析兩種方法所測實驗結(jié)果的全過程,對靜態(tài)電測的基本測試技術(shù)...

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