嵌入式系統設計與開發實例詳解－－基于ARM的應用（采用ARM7TDMI內核的、三星公司推出的S3C44B0X） 第一部分包含：ADCtest,ARPscan,ColorLCDtest,EINTtest,Ethernet,FAT16test,Flashtest,guiHelloworld.
標簽： ColorLCDtest ARM7TDMI S3C44B0X ADCtest
上傳時間： 2015-05-06
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嵌入式系統設計與開發實例詳解－－基于ARM的應用（采用ARM7TDMI內核的、三星公司推出的S3C44B0X） 第二部分：guiHZK,guiMemDev,guiScale,guiWM
標簽： guiMemDev ARM7TDMI S3C44B0X guiScale
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嵌入式系統設計與開發實例詳解－－基于ARM的應用（采用ARM7TDMI內核的、三星公司推出的S3C44B0X） 第三部分： Helloworld,IICtest,IOtest,Nandflashtest
標簽： Helloworld Nandflasht ARM7TDMI S3C44B0X
上傳時間： 2013-12-02
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嵌入式系統設計與開發實例詳解－－基于ARM的應用（采用ARM7TDMI內核的、三星公司推出的S3C44B0X） 第四部分：PDAtest,Pingtest,RTCtest,SDRAMtest
標簽： SDRAMtest ARM7TDMI S3C44B0X Pingtest
上傳時間： 2013-11-26
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嵌入式系統設計與開發實例詳解－－基于ARM的應用（采用ARM7TDMI內核的、三星公司推出的S3C44B0X） 第五部分：Timertest,Touchtest,UARTtest,ucos_ex1
標簽： Timertest Touchtest ARM7TDMI S3C44B0X
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嵌入式系統設計與開發實例詳解－－基于ARM的應用（采用ARM7TDMI內核的、三星公司推出的S3C44B0X） 第六部分：ucos_ex2,ucos_ex3,UDPtest,USBN9603demo,USBtest
標簽： ucos_ex ARM7TDMI S3C44B0X UDPtest
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公司管理系統 有一般的管理功能 .2005 年 作品
標簽： 2005 管理系統
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MF800M射頻讀寫模塊采用PHILIPS公司的Mifare技術設計的微型嵌入式、非接觸式IC卡讀寫模塊。內嵌ISO14443 Type A協議解釋器,并可直接驅動射頻天線
標簽： PHILIPS Mifare 14443 800M
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摘要文章介紹了作者在過擊5年中在微內核技術上所做的工作．給出了3個算法．① 通過特任務調度 和線程調度算法相結合的方法．來解決單純以線程為單位的調度系統的效率和公平性問題；③ 一個改進 的寫時拷貝算法，它結合寫時拷貝算法和詩問時拷用算法的優點．來解決寫時拷貝算法在I386體系結抽 上的適應性問題；@ 提出了一個微內核操作系蜿計時模型，它解決了傳統計時算法在微內核系統中計時 不準確的問題h
標簽： 線程 微內核 任務調度 單位
上傳時間： 2013-12-15
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關于TI公司TMS320C6000系列DSP原理與應用開發的經典教材
標簽： C6000 320C 6000 320
上傳時間： 2013-12-28
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