數字存儲器和混合信號超大規模集成電路
本書系統地介紹了數字、存儲器和混合信號VLSI系統的測試和可測試性設計。該書是根據作者多年的科研成果和教學實踐，結合國際上關注的最新研究熱點并參考大量的文獻撰寫的。全書共分三個部分。第一部分是測試基礎，介紹了測試基本概念、測試設備、測試經濟學和故障模型。第二部分是測試方法，詳細論述了組合和時序電路的測試生成、存儲器測試、基于DSP和基于模塊的模擬與混合信號測試、延遲測試和IDDQ測試等。第三部分是可測試性設計，包括掃描設計、BIST、邊界掃描測試、模擬測試總線標準和基于IP芯核的SOC（System on a chip）測試。
dephi OBD II 技術路線,所謂OBD-II是一個系列的法規，目的是通過檢測整個動力總成系統的故障或劣化來減少在用車的排放，排放控制系統是OBD-II的基礎。OBD-II同時也提供診斷的標準化，修理及其他相關服務的標準化。當車輛的排放（HC,CO,NOx)由于被檢測的零部件/系統的劣化而超出相關標準的1.5倍時，故障指示燈（MIL）必須被點亮以通知駕駛員，并同時記錄故障碼。
