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數(shù)(shù)字水印技術(shù)

  • 基于MATLAB的DCT域數(shù)字水印技術(shù)實(shí)現(xiàn)

        隨著網(wǎng)絡(luò)技術(shù)和多媒體技術(shù)的飛速發(fā)展,如何保護(hù)多媒體信息的安全已成為國(guó)際上研究的熱門話題,數(shù)字水印技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生。作為保護(hù)數(shù)字作品版權(quán)的一種重要手段,數(shù)字水印技術(shù)己成為當(dāng)今學(xué)術(shù)界研究的一個(gè)熱點(diǎn)。文中簡(jiǎn)介了目前主流數(shù)字水印算法,給出了DCT域數(shù)字盲水印算法。該水印算法不可見性較好,對(duì)JPEG壓縮,噪聲,有較好的魯棒性。

    標(biāo)簽: MATLAB DCT 數(shù)字水印 技術(shù)實(shí)現(xiàn)

    上傳時(shí)間: 2013-10-29

    上傳用戶:元宵漢堡包

  • 基于LSB的數(shù)字水印技術(shù)

    LSB數(shù)字水印技術(shù) 數(shù)字水印(Digital Watermarking)技術(shù)是將一些標(biāo)識(shí)信息(即數(shù)字水印)直接嵌入數(shù)字載體當(dāng)中(包括多媒體、文檔、軟件等)或是間接表示(修改特定區(qū)域的結(jié)構(gòu)),且不影響原載體的使用價(jià)值,也不容易被探知和再次修改。但可以被生產(chǎn)方識(shí)別和辨認(rèn)。通過這些隱藏在載體中的信息,可以達(dá)到確認(rèn)內(nèi)容創(chuàng)建者、購(gòu)買者、傳送隱秘信息或者判斷載體是否被篡改等目的。數(shù)字水印是信息隱藏技術(shù)的一個(gè)重要研究方向。 數(shù)字水印是實(shí)現(xiàn)版權(quán)保護(hù)的有效辦法,是信息隱藏技術(shù)研究領(lǐng)域的重要分支。作為一種新型的有效的版權(quán)保護(hù)手段,數(shù)字水印技術(shù)倍受人們的關(guān)注。數(shù)字水印主要是通過在原始資料中嵌入秘密信息——水印,來證實(shí)資料的所有權(quán)。

    標(biāo)簽: LSB 數(shù)字水印技術(shù)

    上傳時(shí)間: 2013-10-15

    上傳用戶:清風(fēng)冷雨

  • pcb layout design(臺(tái)灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

    PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時(shí)間: 2013-11-17

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  • LABVIEW最實(shí)用的技巧合集

    LABVIEW最實(shí)用的技巧合集

    標(biāo)簽: LABVIEW

    上傳時(shí)間: 2013-11-15

    上傳用戶:685

  • Netscape公司提供的安全套接字層

    Netscape公司提供的安全套接字層

    標(biāo)簽: Netscape 套接

    上傳時(shí)間: 2013-12-06

    上傳用戶:R50974

  • 安全套接字層

    安全套接字層

    標(biāo)簽: 套接

    上傳時(shí)間: 2013-12-19

    上傳用戶:123456wh

  • 單個(gè)漢字庫(kù)字摸提取程序

    單個(gè)漢字庫(kù)字摸提取程序

    標(biāo)簽: 漢字庫(kù) 程序

    上傳時(shí)間: 2013-12-17

    上傳用戶:佳期如夢(mèng)

  • 該源碼演示了如何計(jì)算字串的CRC32及文件的CRC32

    該源碼演示了如何計(jì)算字串的CRC32及文件的CRC32,通訊上極常用的算法。

    標(biāo)簽: CRC 32 源碼 如何計(jì)算

    上傳時(shí)間: 2013-12-24

    上傳用戶:JIUSHICHEN

  • Grid數(shù)據(jù)顯示

    Grid數(shù)據(jù)顯示

    標(biāo)簽: Grid

    上傳時(shí)間: 2015-01-09

    上傳用戶:ikemada

  • 一種在字的邊緣出現(xiàn)白色的線條。

    一種在字的邊緣出現(xiàn)白色的線條。

    標(biāo)簽:

    上傳時(shí)間: 2013-12-22

    上傳用戶:wfeel

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