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數(shù)(shù)字電子電路

  • 無線供電、充電模塊

    無線供電、充電模塊

    標簽: 無線

    上傳時間: 2013-06-07

    上傳用戶:eeworm

  • 深圳森霸光電公司-光敏傳感器系列-11.4M.rar

    專輯類----元器件樣本專輯 深圳森霸光電公司-光敏傳感器系列-11.4M.rar

    標簽: 11.4 光敏傳感器

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:pioneer_lvbo

  • HOLTEK-微電腦密碼鎖-11頁-0.4M.rar

    專輯類----單片機專輯 HOLTEK-微電腦密碼鎖-11頁-0.4M.rar

    標簽: HOLTEK 0.4 11

    上傳時間: 2013-06-12

    上傳用戶:蟲蟲蟲蟲蟲蟲

  • 開關(guān)電源基本原理與設(shè)計介紹-62頁-2.3M-ppt.ppt

    專輯類-開關(guān)電源相關(guān)專輯-119冊-749M 開關(guān)電源基本原理與設(shè)計介紹-62頁-2.3M-ppt.ppt

    標簽: M-ppt 2.3 62

    上傳時間: 2013-05-18

    上傳用戶:lyy1234

  • 剖析切換式電源供應(yīng)器的原理及常用元件規(guī)格.pdf

    專輯類-開關(guān)電源相關(guān)專輯-119冊-749M 剖析切換式電源供應(yīng)器的原理及常用元件規(guī)格.pdf

    標簽: 元件

    上傳時間: 2013-06-16

    上傳用戶:huangzchytems

  • 無線供電、充電模塊.pdf

    專輯類-實用電子技術(shù)專輯-385冊-3.609G 無線供電、充電模塊.pdf

    標簽: 無線

    上傳時間: 2013-07-18

    上傳用戶:15071087253

  • 第三章-GE-FANUC-PLC-指令集-一-繼電器指令.pdf

    專輯類-實用電子技術(shù)專輯-385冊-3.609G 第三章-GE-FANUC-PLC-指令集-一-繼電器指令.pdf

    標簽: GE-FANUC-PLC 指令集 指令

    上傳時間: 2013-06-18

    上傳用戶:LIKE

  • (臺達)開關(guān)電源基本原理與設(shè)計介紹

    (臺達)開關(guān)電源基本原理與設(shè)計介紹,比較實用

    標簽: 開關(guān)電源

    上傳時間: 2013-06-15

    上傳用戶:ybysp008

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經(jīng)驗

    PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

  • IC封裝製程簡介(IC封裝制程簡介)

    半導(dǎo)體的產(chǎn)品很多,應(yīng)用的場合非常廣泛,圖一是常見的幾種半導(dǎo)體元件外型。半導(dǎo)體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為   PDID:Plastic Dual Inline Package SOP:Small Outline Package SOJ:Small Outline J-Lead Package PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier QFP:Quad Flat Package PGA:Pin Grid Array BGA:Ball Grid Array         雖然半導(dǎo)體元件的外型種類很多,在電路板上常用的組裝方式有二種,一種是插入電路板的銲孔或腳座,如PDIP、PGA,另一種是貼附在電路板表面的銲墊上,如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。    從半導(dǎo)體元件的外觀,只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳,而半導(dǎo)體元件真正的的核心,是包覆在膠體或陶瓷內(nèi)一片非常小的晶片,透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件,從上方的玻璃窗可看到內(nèi)部的晶片,圖三是以顯微鏡將內(nèi)部的晶片放大,可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳,這些接腳向外延伸並穿出膠體,成為晶片與外界通訊的道路。請注意圖三中有一條銲線從中斷裂,那是使用不當(dāng)引發(fā)過電流而燒毀,致使晶片失去功能,這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。   圖四是常見的LED,也就是發(fā)光二極體,其內(nèi)部也是一顆晶片,圖五是以顯微鏡正視LED的頂端,可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線,若以LED二支接腳的極性來做分別,晶片是貼附在負極的腳上,經(jīng)由銲線連接正極的腳。當(dāng)LED通過正向電流時,晶片會發(fā)光而使LED發(fā)亮,如圖六所示。     半導(dǎo)體元件的製作分成兩段的製造程序,前一段是先製造元件的核心─晶片,稱為晶圓製造;後一段是將晶中片加以封裝成最後產(chǎn)品,稱為IC封裝製程,又可細分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟,在本章節(jié)中將簡介這兩段的製造程序。

    標簽: 封裝 IC封裝 制程

    上傳時間: 2014-01-20

    上傳用戶:蒼山觀海

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