OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
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MATLAB S.J.Chapman《MATLAB編程》中文版修正版
上傳時(shí)間： 2016-08-17
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在做2維度樣本分類(lèi)的過(guò)程中,若我們能事先畫(huà)出訓(xùn)練樣本在空間中的分散情形,這將有助於我們?cè)谠O(shè)定SVM分類(lèi)器的參數(shù)C的取值範(fàn)圍. 例如:若畫(huà)出的訓(xùn)練樣本的散佈較分散,我們可以得知此時(shí)採(cǎi)用的參數(shù)值可以取在較大的範(fàn)圍. 所以本程式也是讓想要畫(huà)出資料樣本在平面的散佈情形者之一各可行工具.
上傳時(shí)間： 2016-08-19
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板級(jí)支持包C*+(J 是嵌入式系統(tǒng)中常用的硬件抽象形式! 是介于操作系統(tǒng)和硬件之間的 軟件層次" 介紹*+( 的功能和特點(diǎn)! 并結(jié)合工作實(shí)踐提出了設(shè)計(jì)*+( 的一般方法# 最后針對(duì)當(dāng)前嵌入 式系統(tǒng)中*+( 的設(shè)計(jì)方法所面臨的問(wèn)題提出了可行的解決辦法
標(biāo)簽： 硬件 板級(jí)支持包 嵌入式系統(tǒng) 實(shí)踐
上傳時(shí)間： 2013-12-19
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ｖｅｒｉｌｏｇ實(shí)現(xiàn)算術(shù)運(yùn)算後利用7段顯示器將結(jié)果輸出
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2014-01-05
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JAVA與MFC混合編程 調(diào)用過(guò)程J->（入口）(MFC dlg->cdlg(jstring))->(c->java類(lèi)->javadlg(cstring))->(返回)（J->jdlg(cstring)）
標(biāo)簽： gt MFC cstring jstring
上傳時(shí)間： 2013-12-22
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《嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)uCOS-II》(第二版).pdf MicroC/OS The Real-Time Kernel Second Edition Jean J. Labrosse著 邵貝貝等譯
標(biāo)簽： J. Real-Time Labrosse uCOS-II
上傳時(shí)間： 2013-12-16
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雙極性步進(jìn)電機(jī)細(xì)分驅(qū)動(dòng)器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)論述j一種雙極性步進(jìn)電動(dòng)機(jī)細(xì)分驅(qū)動(dòng)器的I作原理，該驅(qū)動(dòng)器能較好地改 善步進(jìn)電動(dòng)機(jī)的運(yùn)行性能，具有實(shí)用性強(qiáng)、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低的優(yōu)點(diǎn)。針對(duì)實(shí)際調(diào)試中 出現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行分析后，提出了對(duì)策；最后給出了試驗(yàn)結(jié)果。
標(biāo)簽： 雙極性 細(xì)分驅(qū)動(dòng)器 步進(jìn)電機(jī) 步進(jìn)電動(dòng)機(jī)
上傳時(shí)間： 2016-08-25
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做數(shù)值方法中LeastSquare的繪圖
標(biāo)簽： LeastSquare
上傳時(shí)間： 2016-08-26
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一篇來(lái)自臺(tái)灣中華大學(xué)的論文--《無(wú)線射頻系統(tǒng)標(biāo)簽晶片設(shè)計(jì)》，彩色版。其摘要為：本論文討論使用於無(wú)線射頻辨識(shí)系統(tǒng)(RFID)之標(biāo)籤晶片系統(tǒng)的電路設(shè)計(jì)和晶片製作，初步設(shè)計(jì)標(biāo)籤晶片的基本功能，設(shè)計(jì)流程包含數(shù)位軟體及功能的模擬、基本邏輯閘及類(lèi)比電路的設(shè)計(jì)與晶片電路的佈局考量。 論文的第一部份是序論、射頻辨識(shí)系統(tǒng)的規(guī)劃、辨識(shí)系統(tǒng)的規(guī)格介紹及制定，而第二部份是標(biāo)籤晶片設(shè)計(jì)、晶片量測(cè)、結(jié)論。 電路的初步設(shè)計(jì)功能為:使用電容作頻率緩衝的Schmitt trigger Clock、CRC-16的錯(cuò)誤偵測(cè)編碼、Manchester編碼及使用單一電路做到整流、振盪及調(diào)變的功能，最後完成晶片的實(shí)作。
上傳時(shí)間： 2016-08-27
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