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模擬產(chǎn)(chǎn)品

  • 高共模抑制比儀用放大電路方案

    本文針對傳統(tǒng)儀用放大電路的特點(diǎn),介紹了一種高共模抑制比儀用放大電路,引入共模負(fù)反饋,大大提高了通用儀表放大器的共模抑制能力。

    標(biāo)簽: 共模抑制比 儀用放大 電路 方案

    上傳時(shí)間: 2013-11-10

    上傳用戶:lingfei

  • ADC的九個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)

        模擬轉(zhuǎn)換器性能不只依賴分辨率規(guī)格   大量的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)使人們難以選擇最適合某種特定應(yīng)用的ADC器件。工程師們選擇ADC時(shí),通常只注重位數(shù)、信噪比(SNR)、諧波性能,但是其它規(guī)格也同樣重要。本文將介紹ADC器件最易受到忽視的九項(xiàng)規(guī)格,并說明它們是如何影響ADC性能的。   1. SNR比分辨率更為重要。   ADC規(guī)格中最常見的是所提供的分辨率,其實(shí)該規(guī)格并不能表明ADC器件的任何能力。但可以用位數(shù)n來計(jì)算ADC的理論SNR:   不 過工程師也許并不知道,熱噪聲、時(shí)鐘抖動(dòng)、差分非線性(DNL)誤差以及其它參數(shù)異常都會(huì)限制ADC器件的SNR。對于高性能高分辨率轉(zhuǎn)換器尤其如此。一 些數(shù)據(jù)表提供有效位數(shù)(ENOB)規(guī)格,它描述了ADC器件所能提供的有效位數(shù)。為了計(jì)算ADC的ENOB值,應(yīng)把測量的SNR值放入上述公式,并求解 n。

    標(biāo)簽: ADC 指標(biāo)

    上傳時(shí)間: 2014-12-22

    上傳用戶:z240529971

  • 模電課程設(shè)計(jì)電路圖

    模電

    標(biāo)簽: 模電 電路圖

    上傳時(shí)間: 2013-11-05

    上傳用戶:rishian

  • TE01模介質(zhì)諧振腔體濾波器的設(shè)計(jì)

    本文以介質(zhì)諧振器為起始,研究了介質(zhì)諧振腔體濾波器的設(shè)計(jì)。文章首先介紹了介質(zhì)諧振器基本的工作原理,圍繞模式分離與Q值提高研究了實(shí)際介質(zhì)腔體濾波器中常用的工作在TE01模的介質(zhì)諧振器的基本特性,并在此基礎(chǔ)上提出了一種新的介質(zhì)諧振器結(jié)構(gòu),進(jìn)一步提高介質(zhì)諧振器模式分離度的同時(shí),也提高了主模的品質(zhì)因數(shù)。

    標(biāo)簽: TE 01 介質(zhì)

    上傳時(shí)間: 2013-11-07

    上傳用戶:xhz1993

  • 十六位模數(shù)轉(zhuǎn)換器AD7705+及其應(yīng)用

    十六位模數(shù)轉(zhuǎn)換器AD7705+及其應(yīng)用

    標(biāo)簽: 7705 AD 十六位 模數(shù)轉(zhuǎn)換器

    上傳時(shí)間: 2013-10-12

    上傳用戶:refent

  • FPC模組軟板設(shè)計(jì)規(guī)范

    FPC模組軟板設(shè)計(jì)規(guī)范

    標(biāo)簽: FPC 模組 軟板 設(shè)計(jì)規(guī)范

    上傳時(shí)間: 2013-11-01

    上傳用戶:pol123

  • 如何通過仿真有效提高數(shù)模混合設(shè)計(jì)性

    一 、數(shù)模混合設(shè)計(jì)的難點(diǎn) 二、提高數(shù)模混合電路性能的關(guān)鍵 三、仿真工具在數(shù)模混合設(shè)計(jì)中的應(yīng)用 四、小結(jié) 五、混合信號(hào)PCB設(shè)計(jì)基礎(chǔ)問答

    標(biāo)簽: 仿真 高數(shù)模混合

    上傳時(shí)間: 2013-11-22

    上傳用戶:一天睡三次

  • GC0309模組設(shè)計(jì)指南

    GC0309模組設(shè)計(jì)指南

    標(biāo)簽: 0309 GC 模組 設(shè)計(jì)指南

    上傳時(shí)間: 2013-11-23

    上傳用戶:萍水相逢

  • 共模干擾差模干擾及其抑制技術(shù)分析

    共模干擾和差模干擾是電子、 電氣產(chǎn)品上重要的干擾之一,它們 可以對周圍產(chǎn)品的穩(wěn)定性產(chǎn)生嚴(yán)重 的影響。在對某些電子、電氣產(chǎn)品 進(jìn)行電磁兼容性設(shè)計(jì)和測試的過程 中,由于對各種電磁干擾采取的抑 制措施不當(dāng)而造成產(chǎn)品在進(jìn)行電磁 兼容檢測時(shí)部分測試項(xiàng)目超標(biāo)或通 不過EMC 測試,從而造成了大量人 力、財(cái)力的浪費(fèi)。為了掌握電磁干 擾抑制技術(shù)的一些特點(diǎn),正確理解 一些概念是十分必要的。共模干擾 和差模干擾的概念就是這樣一種重 要概念。正確理解和區(qū)分共模和差 模干擾對于電子、電氣產(chǎn)品在設(shè)計(jì) 過程中采取相應(yīng)的抗干擾技術(shù)十分 重要,也有利于提高產(chǎn)品的電磁兼 容性。

    標(biāo)簽: 共模干擾 差模 干擾

    上傳時(shí)間: 2014-01-16

    上傳用戶:tdyoung

  • IC封裝製程簡介(IC封裝制程簡介)

    半導(dǎo)體的產(chǎn)品很多,應(yīng)用的場合非常廣泛,圖一是常見的幾種半導(dǎo)體元件外型。半導(dǎo)體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為   PDID:Plastic Dual Inline Package SOP:Small Outline Package SOJ:Small Outline J-Lead Package PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier QFP:Quad Flat Package PGA:Pin Grid Array BGA:Ball Grid Array         雖然半導(dǎo)體元件的外型種類很多,在電路板上常用的組裝方式有二種,一種是插入電路板的銲孔或腳座,如PDIP、PGA,另一種是貼附在電路板表面的銲墊上,如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。    從半導(dǎo)體元件的外觀,只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳,而半導(dǎo)體元件真正的的核心,是包覆在膠體或陶瓷內(nèi)一片非常小的晶片,透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件,從上方的玻璃窗可看到內(nèi)部的晶片,圖三是以顯微鏡將內(nèi)部的晶片放大,可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳,這些接腳向外延伸並穿出膠體,成為晶片與外界通訊的道路。請注意圖三中有一條銲線從中斷裂,那是使用不當(dāng)引發(fā)過電流而燒毀,致使晶片失去功能,這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。   圖四是常見的LED,也就是發(fā)光二極體,其內(nèi)部也是一顆晶片,圖五是以顯微鏡正視LED的頂端,可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線,若以LED二支接腳的極性來做分別,晶片是貼附在負(fù)極的腳上,經(jīng)由銲線連接正極的腳。當(dāng)LED通過正向電流時(shí),晶片會(huì)發(fā)光而使LED發(fā)亮,如圖六所示。     半導(dǎo)體元件的製作分成兩段的製造程序,前一段是先製造元件的核心─晶片,稱為晶圓製造;後一段是將晶中片加以封裝成最後產(chǎn)品,稱為IC封裝製程,又可細(xì)分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟,在本章節(jié)中將簡介這兩段的製造程序。

    標(biāo)簽: 封裝 IC封裝 制程

    上傳時(shí)間: 2014-01-20

    上傳用戶:蒼山觀海

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