自組織映射網(wǎng)路(SOM) ，一種以競(jìng)爭(zhēng)架構(gòu)為學(xué)習(xí)基礎(chǔ)的類神經(jīng)網(wǎng)路模式 SOM網(wǎng)路是模仿腦神經(jīng)細(xì)胞『物以類聚』的特性
標(biāo)簽： SOM 映射
上傳時(shí)間： 2017-01-07
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這是臺(tái)灣鳥(niǎo)哥linux私房菜的電子書(shū)檔，內(nèi)容是一些linux的基礎(chǔ)教學(xué)與架設(shè)伺服器的設(shè)定，希望大家會(huì)喜歡
標(biāo)簽： linux
上傳時(shí)間： 2014-01-18
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Linux操作系統(tǒng)下C語(yǔ)言編程入門(mén)，基礎(chǔ)Linux下寫(xiě)C程式
標(biāo)簽： Linux 操作 系統(tǒng)
上傳時(shí)間： 2013-11-26
上傳用戶：啊颯颯大師的
快速瞭解ECLIPSE 目錄 序言· 一．Eclipse 簡(jiǎn)介 二．Eclipse 組織 三．Eclipse 相關(guān)術(shù)語(yǔ) 四．Eclipse 平臺(tái) 五．EMF & GEF 介紹 六．關(guān)於Eclipse、SWT 和JFace 一個(gè)SWT 應(yīng)用程式的基礎(chǔ)材料 基本控制項(xiàng) 標(biāo)籤 文件 按鈕 事件監(jiān)聽(tīng)器 複合控制項(xiàng) Shell 佈局管理器 FillLayout GridLayout GridData 15 建立一個(gè)執(zhí)行程式 為什麼使用SWT 七．OSGI 簡(jiǎn)介 Eclipse 資源 附錄1 SWT 的內(nèi)幕？ 附錄2 相關(guān)網(wǎng)站 附錄3 外掛開(kāi)發(fā)
標(biāo)簽： Eclipse ECLIPSE EMF GEF
上傳時(shí)間： 2015-11-30
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自己用fuzzy實(shí)作開(kāi)發(fā)之倒車(chē)入庫(kù)系統(tǒng)，程式不大，適合於剛進(jìn)入fuzzy控制的新手練習(xí)
標(biāo)簽： fuzzy 系統(tǒng)
上傳時(shí)間： 2015-12-23
上傳用戶：蠢蠢66
這個(gè)程式可以顯示 3~100 的 prime number，很適合新手練習(xí)的範(fàn)例程式，附上源碼可以修改內(nèi)部細(xì)節(jié)，多做驗(yàn)證。
標(biāo)簽： number prime 100 程式
上傳時(shí)間： 2015-12-31
上傳用戶：exxxds
這是在wince上的小畫(huà)家程式，實(shí)際load在xscale版子上過(guò)，讓我們了解GDI+繪圖在WINCE上，可以用RGB調(diào)色盤(pán)、直線曲線橢圓等功能，對(duì)於WINCE開(kāi)發(fā)繪圖上算是基礎(chǔ)工具。
標(biāo)簽： wince 家 程式
上傳時(shí)間： 2016-01-05
上傳用戶：ANRAN
K51 浮點(diǎn)數(shù)除法，用匯編編寫(xiě)，基礎(chǔ)的東西
標(biāo)簽： K51 除法
上傳時(shí)間： 2013-12-16
上傳用戶：xauthu
《實(shí)戰(zhàn)C++ — 八個(gè)別具特色的實(shí)作經(jīng)驗(yàn)》與目前市面㆖ 眾多C++ 書(shū)籍的最大不同，在於 本書(shū)既非基礎(chǔ)觀念之教㈻ 書(shū)籍，亦非開(kāi)發(fā)工具之使用手冊(cè)，而是以「㆒ 章㆒ 專案」的方式， 從實(shí)際應(yīng)用面引領(lǐng)讀者領(lǐng)略C++。 本書(shū)是《The Art of C++》的㆗ 文譯本。原作者Herbert Schildt 是㆒ 位㈻ ㈲ 專精、著作等身的 IT 技術(shù)作家，其作品普遍獲得良好評(píng)價(jià)。
標(biāo)簽： 12694
上傳時(shí)間： 2016-02-08
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
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