<acronym id="ljxnl"></acronym> 量測可變電阻的類比電壓值，並將10位元的良測結果轉換成ASCII編碼，並輸出到個人電腦上的終端機
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上傳時間： 2014-01-19
上傳用戶：hzy5825468
利用T2FNN進行MEC建模,針對IC散射現(xiàn)象進行量測與模擬比較
上傳時間： 2014-01-10
上傳用戶：fandeshun
在Delphi 環(huán)境下編寫的串口調試程序 ,能與下位機(MSP430F147)實現(xiàn)串口485通訊.完成對下位機狀態(tài)的檢測.校準. 對於使用Delphi的串口編程有一定的作用.
上傳時間： 2017-05-05
上傳用戶：asasasas
Arduino 類比電壓的標準測試程式，利用讀取類比電壓的值來控制led閃爍的頻率，文中有詳細的描述與介紹說明。
上傳時間： 2013-12-20
上傳用戶：hewenzhi
Arduino 數(shù)位I/O的標準測試程式，利用讀取輸入的數(shù)位訊來控制輸出的數(shù)位訊號，文中有詳細的描述與介紹說明。
上傳時間： 2017-05-23
上傳用戶：6546544
測試成功的 Virtual Mouse 的 INF 檔 , 很難找到 , 也是試 N 久才成功的
上傳時間： 2013-12-22
上傳用戶：fnhhs
特點 精確度0.1%滿刻度 ±1位數(shù) 可量測 交直流電流/交直流電壓/電位計/傳送器/Pt-100/荷重元/電阻 等信號 顯示范圍-1999-9999可任意規(guī)劃 具有異常值與異常次數(shù)記錄保留功能 異常信號過高或過低或范圍內或范圍外檢測可任意設定 報警繼電器復歸方式可任意設定 尺寸小,穩(wěn)定性高 2.主要規(guī)格 精確度: 0.1% F.S. ±1 digit 0.2% F.S. ±1 digit(AC) 取樣時間: 16 cycles/sec. 顯示值范圍: -1999 - +9999 digit adjustable 啟動延遲動作時間: 0-99.9 second adjustable 繼電器延遲動作時間: 0-99.9 second adjustable 繼電器復歸方式: Manual (N) / latch(L) can be modified 繼電器動作方向: HI /LO/GO/HL can be modified 繼電器容量: AC 250V-5A, DC 30V-7A 過載顯示: "doFL" 溫度系數(shù): 50ppm/℃ (0-50℃) 顯示幕: Red high efficiency LEDs high 14.22mm(.56")(PV) Red high efficiency LEDs high 7.0mm(.276")(NO) 參數(shù)設定方式: Touch switches 記憶型式 : Non-volatile E2PROM memory 絕緣耐壓能力: 2KVac/1 min. (input/output/power) 1600Vdc(input/output 使用環(huán)境條件 : 0-50℃(20 to 90% RH non-condensed) 存放環(huán)境條件: 0-70℃(20 to 90% RH non-condensed) CE認證: EN 55022:1998/A1:2000 Class A EN 61000-3-2:2000 EN 61000-3-3:1995/A1:2001 EN 55024:1998/A1:2001
上傳時間： 2013-11-02
上傳用戶：fandeshun
介紹S7-200 PLC在水處理設備給粉機上的應用，并重點介紹模擬量的處理。以及模擬量的穩(wěn)定和抗干擾問題。
上傳時間： 2015-01-02
上傳用戶：淺言微笑
此程序目的用來計算集裝箱裝量，可以計算出達到最大裝量的放置方法，功能已經基本實現(xiàn)，實際可以用于任何方形空間存放方形物體的計算問題，目前只有文字輸出結果。 程序利用回溯探索法，算法一般，有水平者可以改進算法。
上傳時間： 2013-11-25
上傳用戶：獨孤求源
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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