資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動長度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數(shù)採用固定長度一個位元組表示法~ 對於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代~
標(biāo)簽： Encoding Length Run 表示法
上傳時間： 2016-08-15
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資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用~霍夫曼編碼壓縮及解壓縮(Huffman Coding)~資料結(jié)構(gòu)：霍夫曼樹，結(jié)構(gòu)struct
上傳時間： 2014-07-18
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課程設(shè)計之磁盤調(diào)度算法：N-Step—Scan
標(biāo)簽： N-Step Scan 磁盤 調(diào)度算法
上傳時間： 2016-08-16
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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產(chǎn)生N(0,1)的高斯偽隨機(jī)數(shù)的程序,所用方法為極方法
上傳時間： 2013-12-21
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matlab和VC混合編程的數(shù)據(jù)n倍內(nèi)插處理系統(tǒng)，混編使用matcom代碼轉(zhuǎn)換方式實(shí)現(xiàn)
標(biāo)簽： matlab 混合編程 數(shù)據(jù) 內(nèi)插
上傳時間： 2014-01-01
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FFT代原碼為C++需要測過才能用，所有檔案階完整
標(biāo)簽： FFT
上傳時間： 2016-08-17
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已知記錄序列a[1..n] 中的關(guān)鍵字各不相同， 可按如下所述實(shí)現(xiàn)計數(shù)排序：另設(shè)數(shù)組c[1..n]，對每 個記錄a[i]， 統(tǒng)計序列中關(guān)鍵字比它小的記錄個數(shù)存 于c[i]， 則c[i]=0的記錄必為關(guān)鍵字最小的記錄，然 后依c[i]值的大小對a中記錄進(jìn)行重新排列，試編寫算 法實(shí)現(xiàn)上述排序方法。
上傳時間： 2016-08-17
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給定含有n 個元素的多重集合S = {a1, a2,., an } ，1 ≤ ai ≤ n ，1 ≤ i ≤ n ，每個元素在S 中出現(xiàn)的次數(shù)稱為該元素的重數(shù)。多重集S 中重數(shù)大于n/2 的元素稱為主元素。例如，S={2，2，4，2，1，2，5，2，2，8}。多重集S 的主元素是2，其重數(shù)為6。
上傳時間： 2016-08-20
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設(shè)X[0:n-1]和Y[0:n-1] 為2 個數(shù)組,每個數(shù)組中含有n 個已排好序的數(shù)。試設(shè)計一個O(log n) 時間的算法,找出X 和Y 的2n 個數(shù)的中位數(shù)。
上傳時間： 2016-08-20
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