在pcb設(shè)計(jì)中，對(duì)于可制造性設(shè)計(jì)需要認(rèn)真對(duì)待，值得大家學(xué)習(xí)
標(biāo)簽： PCB 可制造性
上傳時(shí)間： 2013-06-07
上傳用戶：dialouch
·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要，直接閱讀你所關(guān)注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括：設(shè)計(jì)核心，關(guān)注嵌入核心和嵌入存儲(chǔ)器；系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設(shè)計(jì)問題；AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測(cè)試性設(shè)計(jì)；內(nèi)建、自測(cè)試、含內(nèi)存BIST、邏輯BIST及掃描BIST；虛擬測(cè)試套接字和隔離測(cè)試 ·重用設(shè)計(jì)，包括重用和隔離測(cè)試；用VSIA和IEEE P1500標(biāo)準(zhǔn)處理測(cè)試問題。 書中穿插的整幅圖解直接來自作者的教學(xué)材
標(biāo)簽： 數(shù)字集成電路 嵌入式 內(nèi)核
上傳時(shí)間： 2013-04-24
上傳用戶：sjb555
fpga的理解性word，對(duì)設(shè)計(jì)有幫助，延遲，效率問題等
標(biāo)簽： fpga word
上傳時(shí)間： 2013-08-24
上傳用戶：muhongqing
FPGA和DSP的設(shè)計(jì)可靠性及可維護(hù)性對(duì)比.pdf
標(biāo)簽： FPGA DSP 可靠性 對(duì)比
上傳時(shí)間： 2013-08-28
上傳用戶：pei5
由于模擬電路的多樣性、非線性和離散性等特點(diǎn)，模擬電路的故障診斷呈現(xiàn)復(fù)雜、難以辨識(shí)等問題。針對(duì)已有方法的數(shù)據(jù)不平衡，提出了一種支持向量機(jī)集成的故障診斷方法。使用小波變換方法提取特征向量，在多類別支持向量機(jī)的基礎(chǔ)上，設(shè)計(jì)了模擬電路的最小二乘支持向量機(jī)預(yù)測(cè)模型，實(shí)現(xiàn)了對(duì)模擬電路的狀態(tài)的故障預(yù)測(cè)。將該方法應(yīng)用于Sallen-Key帶通電路進(jìn)行故障預(yù)測(cè)試驗(yàn)，結(jié)果表明，該方法比單一支持向量機(jī)、徑向基神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和APSVM有更好的分類和泛化性能，故障診斷準(zhǔn)確率更高。
標(biāo)簽： LS-SVM 集成 模擬電路 故障檢測(cè)
上傳時(shí)間： 2013-10-31
上傳用戶：417313137
電路仿真不僅應(yīng)用于電路設(shè)計(jì)階段，也用于電路故障診斷中。電路仿真結(jié)果能夠?yàn)榻㈦娐窚y(cè)試診斷知識(shí)庫提供重要的參考信息。本文簡(jiǎn)要介紹了電路仿真收斂性的相關(guān)理論，分析了板級(jí)模擬電路直流分析和瞬態(tài)分析的仿真收斂性問題，深入探討了電路仿真技術(shù)的原理和發(fā)展，重點(diǎn)研究了新的電路仿真算法，并將其應(yīng)用于模擬電路仿真系統(tǒng)中。
標(biāo)簽： 板級(jí) 仿真 收斂性 技術(shù)研究
上傳時(shí)間： 2014-12-23
上傳用戶：hopy
數(shù)字容性隔離器的應(yīng)用環(huán)境通常包括一些大型電動(dòng)馬達(dá)、發(fā)電機(jī)以及其他產(chǎn)生強(qiáng)電磁場(chǎng)的設(shè)備。暴露在這些磁場(chǎng)中，可引起潛在的數(shù)據(jù)損壞問題，因?yàn)殡妱?shì)（EMF，即這些磁場(chǎng)形成的電壓）會(huì)干擾數(shù)據(jù)信號(hào)傳輸。由于存在這種潛在威脅，因此許多數(shù)字隔離器用戶都要求隔離器具備高磁場(chǎng)抗擾度 (MFI)。許多數(shù)字隔離器技術(shù)都聲稱具有高 MFI，但容性隔離器卻因其設(shè)計(jì)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)擁有幾乎無窮大的MFI。本文將對(duì)其設(shè)計(jì)進(jìn)行詳細(xì)的介紹。
標(biāo)簽： 數(shù)字 隔離器 磁場(chǎng)抗擾度
上傳時(shí)間： 2013-10-26
上傳用戶：litianchu
本電路提供一種擴(kuò)展AD7745/AD7746容性輸入范圍的方法。同時(shí)，還說明如何充分利用片內(nèi)CapDAC，使范圍擴(kuò)展系數(shù)最小，從而優(yōu)化電路，實(shí)現(xiàn)最佳性能。AD7745具有一個(gè)電容輸入通道，AD7746則有兩個(gè)通道。每個(gè)通道均可配置為單端輸入或差分輸入方式。
標(biāo)簽： AD 7745 7746 擴(kuò)展
上傳時(shí)間： 2013-11-21
上傳用戶：天誠24
各研究機(jī)構(gòu)提出了像素補(bǔ)償電路用于改善OLED的均勻性和穩(wěn)定性等問題,文中對(duì)目前采用有源OLED的α-Si TFT和p-Si TFT的各種像素補(bǔ)償電路進(jìn)行了分析。分析結(jié)果表明,文中設(shè)計(jì)方案取得了一定的效果,但尚存不足。
標(biāo)簽： AMOLED TFT 穩(wěn)定性 像素
上傳用戶：pioneer_lvbo
PCB的可制造性與可測(cè)試性，很詳細(xì)的pcb學(xué)習(xí)資料。
標(biāo)簽： PCB 可制造性 測(cè)試
上傳時(shí)間： 2014-06-22
上傳用戶：熊少鋒
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