儀器源碼->基MSP430 OPEN/SHORT C代碼,已成功用于工業(yè)自動控制
本儀器適應于各種邦定IC電路測試，針對邦定電路密集，芯片體積小不能用目檢法判斷，用常規(guī)儀器也難以檢測的特點。我們的OPEN/SHORT專業(yè)測試儀能迅速檢測邦定IC的連線是否正常，利用IC芯片本身特點對各引腳進行開路與短路測試，正確判斷邦線中每條線路的開路、短路以及芯片本身和外圍器件損壞等現象
標簽：
SHORT
OPEN
MSP
430
上傳時間：
2013-12-17
上傳用戶：璇珠官人
