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溫度監(jiān)(jiān)視器

  • 采用集成電流檢測來監(jiān)視和保護(hù)汽車系統(tǒng)

    對於集成電路而言,汽車是一種苛刻的使用環(huán)境,這裡,引擎罩下的工作溫度範(fàn)圍可寬達(dá) -40°C 至 125°C,而且,在電池電壓總線上出現(xiàn)大瞬變偏移也是預(yù)料之中的事

    標(biāo)簽: 集成 電流檢測 保護(hù) 汽車系統(tǒng)

    上傳時間: 2013-11-20

    上傳用戶:zhaiye

  • 模塊電源功能性參數(shù)指標(biāo)及測試方法

      模塊電源的電氣性能是通過一系列測試來呈現(xiàn)的,下列為一般的功能性測試項目,詳細(xì)說明如下: 電源調(diào)整率(Line Regulation) 負(fù)載調(diào)整率(Load Regulation) 綜合調(diào)整率(Conmine Regulation) 輸出漣波及雜訊(Ripple & Noise) 輸入功率及效率(Input Power, Efficiency) 動態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載(Dynamic or Transient Response) 起動(Set-Up)及保持(Hold-Up)時間 常規(guī)功能(Functions)測試 1. 電源調(diào)整率   電源調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓變化時提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。測試步驟如下:于待測電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定后,分別于低輸入電壓(Min),正常輸入電壓(Normal),及高輸入電壓(Max)下測量并記錄其輸出電壓值。 電源調(diào)整率通常以一正常之固定負(fù)載(Nominal Load)下,由輸入電壓變化所造成其輸出電壓偏差率(deviation)的百分比,如下列公式所示:   [Vo(max)-Vo(min)] / Vo(normal) 2. 負(fù)載調(diào)整率   負(fù)載調(diào)整率的定義為開關(guān)電源于輸出負(fù)載電流變化時,提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。測試步驟如下:于待測電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定后,測量正常負(fù)載下之輸出電壓值,再分別于輕載(Min)、重載(Max)負(fù)載下,測量并記錄其輸出電壓值(分別為Vo(max)與Vo(min)),負(fù)載調(diào)整率通常以正常之固定輸入電壓下,由負(fù)載電流變化所造成其輸出電壓偏差率的百分比,如下列公式所示:   [Vo(max)-Vo(min)] / Vo(normal)    3. 綜合調(diào)整率   綜合調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化時,提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。這是電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,此項測試系為上述電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,可提供對電源供應(yīng)器于改變輸入電壓與負(fù)載狀況下更正確的性能驗證。 綜合調(diào)整率用下列方式表示:于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化下,其輸出電壓之偏差量須于規(guī)定之上下限電壓范圍內(nèi)(即輸出電壓之上下限絕對值以內(nèi))或某一百分比界限內(nèi)。 4. 輸出雜訊   輸出雜訊(PARD)系指于輸入電壓與輸出負(fù)載電流均不變的情況下,其平均直流輸出電壓上的周期性與隨機(jī)性偏差量的電壓值。輸出雜訊是表示在經(jīng)過穩(wěn)壓及濾波后的直流輸出電壓上所有不需要的交流和噪聲部份(包含低頻之50/60Hz電源倍頻信號、高于20 KHz之高頻切換信號及其諧波,再與其它之隨機(jī)性信號所組成)),通常以mVp-p峰對峰值電壓為單位來表示。   一般的開關(guān)電源的規(guī)格均以輸出直流輸出電壓的1%以內(nèi)為輸出雜訊之規(guī)格,其頻寬為20Hz到20MHz。電源實際工作時最惡劣的狀況(如輸出負(fù)載電流最大、輸入電源電壓最低等),若電源供應(yīng)器在惡劣環(huán)境狀況下,其輸出直流電壓加上雜訊后之輸出瞬時電壓,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不超過輸出高低電壓界限情形,否則將可能會導(dǎo)致電源電壓超過或低于邏輯電路(如TTL電路)之承受電源電壓而誤動作,進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。   同時測量電路必須有良好的隔離處理及阻抗匹配,為避免導(dǎo)線上產(chǎn)生不必要的干擾、振鈴和駐波,一般都采用雙同軸電纜并以50Ω于其端點上,并使用差動式量測方法(可避免地回路之雜訊電流),來獲得正確的測量結(jié)果。 5. 輸入功率與效率   電源供應(yīng)器的輸入功率之定義為以下之公式:   True Power = Pav(watt) = Vrms x Arms x Power Factor 即為對一周期內(nèi)其輸入電壓與電流乘積之積分值,需注意的是Watt≠VrmsArms而是Watt=VrmsArmsxP.F.,其中P.F.為功率因素(Power Factor),通常無功率因素校正電路電源供應(yīng)器的功率因素在0.6~0.7左右,其功率因素為1~0之間。   電源供應(yīng)器的效率之定義為為輸出直流功率之總和與輸入功率之比值。效率提供對電源供應(yīng)器正確工作的驗證,若效率超過規(guī)定范圍,即表示設(shè)計或零件材料上有問題,效率太低時會導(dǎo)致散熱增加而影響其使用壽命。 6. 動態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載   一個定電壓輸出的電源,于設(shè)計中具備反饋控制回路,能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由于實際上反饋控制回路有一定的頻寬,因此限制了電源供應(yīng)器對負(fù)載電流變化時的反應(yīng)。若控制回路輸入與輸出之相移于增益(Unity Gain)為1時,超過180度,則電源供應(yīng)器之輸出便會呈現(xiàn)不穩(wěn)定、失控或振蕩之現(xiàn)象。實際上,電源供應(yīng)器工作時的負(fù)載電流也是動態(tài)變化的,而不是始終維持不變(例如硬盤、軟驅(qū)、CPU或RAM動作等),因此動態(tài)負(fù)載測試對電源供應(yīng)器而言是極為重要的。可編程序電子負(fù)載可用來模擬電源供應(yīng)器實際工作時最惡劣的負(fù)載情況,如負(fù)載電流迅速上升、下降之斜率、周期等,若電源供應(yīng)器在惡劣負(fù)載狀況下,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過高激(Overshoot)或過低(Undershoot)情形,否則會導(dǎo)致電源之輸出電壓超過負(fù)載組件(如TTL電路其輸出瞬時電壓應(yīng)介于4.75V至5.25V之間,才不致引起TTL邏輯電路之誤動作)之承受電源電壓而誤動作,進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。 7. 啟動時間與保持時間   啟動時間為電源供應(yīng)器從輸入接上電源起到其輸出電壓上升到穩(wěn)壓范圍內(nèi)為止的時間,以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,啟動時間為從電源開機(jī)起到輸出電壓達(dá)到4.75V為止的時間。   保持時間為電源供應(yīng)器從輸入切斷電源起到其輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時間,以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,保持時間為從關(guān)機(jī)起到輸出電壓低于4.75V為止的時間,一般值為17ms或20ms以上,以避免電力公司供電中于少了半周或一周之狀況下而受影響。    8. 其它 在電源具備一些特定保護(hù)功能的前提下,還需要進(jìn)行保護(hù)功能測試,如過電壓保護(hù)(OVP)測試、短路保護(hù)測試、過功保護(hù)等

    標(biāo)簽: 模塊電源 參數(shù) 指標(biāo) 測試方法

    上傳時間: 2013-10-22

    上傳用戶:zouxinwang

  • 深入淺出LabVIEW數(shù)據(jù)庫應(yīng)用

    曾經(jīng)在一個產(chǎn)品檢測項目中,客戶要求:當(dāng)產(chǎn)品檢測不合格時,記下該產(chǎn)品對應(yīng)的序列號,測試時間和各項測試指標(biāo),并能對這些數(shù)據(jù)進(jìn)行管理和查詢。由于自己沒有系統(tǒng)的學(xué)習(xí)過數(shù)據(jù)庫,所以第一時間想到的解決方案是用文件的方式(也只能把數(shù)據(jù)存成文件了)。在使用文件進(jìn)行數(shù)據(jù)儲存與管理時,遇到了一個巨大的問題:如何查詢數(shù)據(jù)?基本的文件IO函數(shù)中,并沒有提供現(xiàn)成的查詢函數(shù),所以必須自己編程實現(xiàn)。實現(xiàn)的過程是先將數(shù)據(jù)讀入內(nèi)存,然后再根據(jù)關(guān)鍵字進(jìn)行線性查找,線性查找的時間復(fù)雜度為O(N),所以當(dāng)數(shù)據(jù)量逐漸增大時,這將是一個非常可怕的過程。這個不可逾越的障礙迫使我不得不再次考慮使用數(shù)據(jù)庫。

    標(biāo)簽: LabVIEW 數(shù)據(jù)庫

    上傳時間: 2013-12-22

    上傳用戶:yuchunhai1990

  • 該程序是分布計數(shù)排序

    該程序是分布計數(shù)排序,它是我所見過的各種排序方法中最快的,它的時間復(fù)雜度為O(n),但是這種排序適用于已知待排序列的上下限,并且如果上限與下限的差值比較大的話,空間消耗也比較大.

    標(biāo)簽: 程序 分布 排序

    上傳時間: 2015-03-22

    上傳用戶:mpquest

  • 這個程序是按照離散數(shù)學(xué)教材上給出的算法寫的

    這個程序是按照離散數(shù)學(xué)教材上給出的算法寫的,是字典序的全排列算法。空間復(fù)雜度是O(n),時間復(fù)雜度基本上是O(n^2)。缺點是只用于打印并沒有儲存所有的結(jié)果。

    標(biāo)簽: 程序 離散 教材 算法

    上傳時間: 2015-03-24

    上傳用戶:chenjjer

  • 通過精心挑選劃分元素v

    通過精心挑選劃分元素v,可以得到一個最壞情況時間復(fù)雜度為O(n)的選擇算法。本次實習(xí)要求用c語言將此算法實現(xiàn)。要求實現(xiàn)此功能:輸入一組數(shù),返回A[i],使其為A(m:p)中第k小的元素,k是一個全局變量,取大于1的整數(shù)

    標(biāo)簽: 元素

    上傳時間: 2015-06-02

    上傳用戶:zmy123

  • 后綴數(shù)組求最長公共子串 這里的最長公共子串是指的連續(xù)的子串

    后綴數(shù)組求最長公共子串 這里的最長公共子串是指的連續(xù)的子串,并非經(jīng)典dp的那種。 aabbc abc 這兩個字符串的最長公共子串為ab 算法復(fù)雜度是o(n)的(n為兩個字符串長度的和)

    標(biāo)簽: 后綴數(shù)組 連續(xù)的

    上傳時間: 2015-10-24

    上傳用戶:電子世界

  • 最小生成樹Prim算法的實現(xiàn)

    最小生成樹Prim算法的實現(xiàn),時間復(fù)雜度O(n2)

    標(biāo)簽: Prim 生成樹 算法

    上傳時間: 2014-01-01

    上傳用戶:wab1981

  • 使用回溯法求解TSP問題

    使用回溯法求解TSP問題,使用VC++編寫。代碼量挺少,不過數(shù)據(jù)較大的時候需要時間比較長,時間復(fù)雜度為O(n!)

    標(biāo)簽: TSP 回溯法

    上傳時間: 2016-06-03

    上傳用戶:JasonC

  • Trie樹既可用于一般的字典搜索

    Trie樹既可用于一般的字典搜索,也可用于索引查找。對于給定的一個字符串a(chǎn)1,a2,a3,...,an.則采用TRIE樹搜索經(jīng)過n次搜索即可完成一次查找。不過好像還是沒有B樹的搜索效率高,B樹搜索算法復(fù)雜度為logt(n+1/2).當(dāng)t趨向大,搜索效率變得高效。怪不得DB2的訪問內(nèi)存設(shè)置為虛擬內(nèi)存的一個PAGE大小,而且?guī)袚Q頻率降低,無需經(jīng)常的PAGE切換。

    標(biāo)簽: Trie 搜索

    上傳時間: 2016-07-06

    上傳用戶:sk5201314

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