J-LINK仿真器詳細(xì)教程 flash下載操作等
標(biāo)簽: J-link 使用指南
上傳時(shí)間: 2013-11-14
上傳用戶:JamesB
微帶天線[加]I.J.鮑爾
標(biāo)簽: I.J. 微帶天線
上傳時(shí)間: 2013-11-17
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文章對(duì)美國升級(jí)臺(tái)灣F-16機(jī)載多功能雷達(dá)的技術(shù)進(jìn)行了研究。首先介紹了有源電掃相控陣技術(shù),該技術(shù)是提高雷達(dá)性能的關(guān)鍵所在。其次對(duì)多普勒銳化和合成孔徑技術(shù)進(jìn)行了深入的討論,研究表明合成孔徑技術(shù)能更好地提高成像效果。最后分析了升級(jí)F-16帶來的不足,說明升級(jí)不能阻止國家的統(tǒng)一大業(yè)。
標(biāo)簽: 16 機(jī)載雷達(dá) 關(guān)鍵技術(shù) 分
上傳用戶:古谷仁美
買的開發(fā)板上帶的52個(gè)應(yīng)用于實(shí)物的程序,希望對(duì)大家有幫助
標(biāo)簽: 單片機(jī)開發(fā)板 c語言 程序 源代碼
上傳時(shí)間: 2013-11-04
上傳用戶:xymbian
創(chuàng)新、效能、卓越是ADI公司的文化支柱。作為業(yè)界公認(rèn)的全球領(lǐng)先數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換和信號(hào)調(diào)理技術(shù)領(lǐng)先者,我們除了提供成千上萬種產(chǎn)品以外,還開發(fā)了全面的設(shè)計(jì)工具,以便客戶在整個(gè)設(shè)計(jì)階段都能輕松快捷地評(píng)估電路。
標(biāo)簽: ADI 在線工具 工程師
上傳時(shí)間: 2013-11-25
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上傳時(shí)間: 2013-10-18
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半導(dǎo)體的產(chǎn)品很多,應(yīng)用的場(chǎng)合非常廣泛,圖一是常見的幾種半導(dǎo)體元件外型。半導(dǎo)體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為 PDID:Plastic Dual Inline Package SOP:Small Outline Package SOJ:Small Outline J-Lead Package PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier QFP:Quad Flat Package PGA:Pin Grid Array BGA:Ball Grid Array 雖然半導(dǎo)體元件的外型種類很多,在電路板上常用的組裝方式有二種,一種是插入電路板的銲孔或腳座,如PDIP、PGA,另一種是貼附在電路板表面的銲墊上,如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。 從半導(dǎo)體元件的外觀,只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳,而半導(dǎo)體元件真正的的核心,是包覆在膠體或陶瓷內(nèi)一片非常小的晶片,透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件,從上方的玻璃窗可看到內(nèi)部的晶片,圖三是以顯微鏡將內(nèi)部的晶片放大,可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳,這些接腳向外延伸並穿出膠體,成為晶片與外界通訊的道路。請(qǐng)注意圖三中有一條銲線從中斷裂,那是使用不當(dāng)引發(fā)過電流而燒毀,致使晶片失去功能,這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。 圖四是常見的LED,也就是發(fā)光二極體,其內(nèi)部也是一顆晶片,圖五是以顯微鏡正視LED的頂端,可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線,若以LED二支接腳的極性來做分別,晶片是貼附在負(fù)極的腳上,經(jīng)由銲線連接正極的腳。當(dāng)LED通過正向電流時(shí),晶片會(huì)發(fā)光而使LED發(fā)亮,如圖六所示。 半導(dǎo)體元件的製作分成兩段的製造程序,前一段是先製造元件的核心─晶片,稱為晶圓製造;後一段是將晶中片加以封裝成最後產(chǎn)品,稱為IC封裝製程,又可細(xì)分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟,在本章節(jié)中將簡(jiǎn)介這兩段的製造程序。
標(biāo)簽: 封裝 IC封裝 制程
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J-LIN仿真器操作步驟,J-LIN仿真器操作步驟。
標(biāo)簽: J-LIN 仿真器 操作
上傳時(shí)間: 2013-10-31
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新代數(shù)控系統(tǒng)OpenCNC_PLC發(fā)展工具操作手冊(cè)V2.5。
標(biāo)簽: OpenCNC_PLC 2.5 數(shù)控系統(tǒng) 操作
上傳時(shí)間: 2013-11-07
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針對(duì)在火箭發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試中,溫度與推壓力不同采集方式的問題,采用LabView虛擬儀器平臺(tái),設(shè)計(jì)了一套采集系統(tǒng)。通過分屏顯示、采集模塊嵌套等方法,解決了多種采集方式兼容的問題;通過事先設(shè)置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)路徑,進(jìn)行及時(shí)存儲(chǔ)的方法,解決了異常情況丟失數(shù)據(jù)的問題。文中提到的系統(tǒng)具有擴(kuò)展性強(qiáng),用戶界面友好的特點(diǎn)。實(shí)踐證明能夠很好的完成測(cè)試采集任務(wù)
標(biāo)簽: LABVIEW 火箭發(fā)動(dòng)機(jī) 溫度采集 中的應(yīng)用
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