在cypress單晶片上實(shí)驗(yàn)EEPROM 的測(cè)試程式
標(biāo)簽： cypress EEPROM 晶片 程式
上傳時(shí)間： 2014-01-09
上傳用戶：D&L37
用pascal寫(xiě)的jpeg codec, 測(cè)試過(guò)的
上傳時(shí)間： 2016-07-11
上傳用戶：wl9454
使用pic16f873晶片來(lái)設(shè)定adi的RGB轉(zhuǎn)HDMI的功能chip。最主要是裡面一些參數(shù)值的設(shè)定必須參考原廠的adi chip規(guī)格
上傳時(shí)間： 2016-07-17
上傳用戶：erkuizhang
使用16f873來(lái)設(shè)定adi的HDMI轉(zhuǎn)RGB的chip設(shè)定參數(shù)值。
標(biāo)簽： 16f873 HDMI chip adi
上傳時(shí)間： 2013-12-17
上傳用戶：sqq
股市分析K線,測(cè)試版本,可以研究修正,勿用於商業(yè)販賣
上傳時(shí)間： 2014-01-04
上傳用戶：edisonfather
MicroShip IIC 使用的範(fàn)例程式 , 測(cè)試成功
上傳時(shí)間： 2013-12-17
上傳用戶：zxc23456789
MicroShip CAN Bus 範(fàn)例 , 測(cè)試成功 , 新版的喔
上傳時(shí)間： 2014-01-27
上傳用戶：tonyshao
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
在做2維度樣本分類的過(guò)程中,若我們能事先畫(huà)出訓(xùn)練樣本在空間中的分散情形,這將有助於我們?cè)谠O(shè)定SVM分類器的參數(shù)C的取值範(fàn)圍. 例如:若畫(huà)出的訓(xùn)練樣本的散佈較分散,我們可以得知此時(shí)採(cǎi)用的參數(shù)值可以取在較大的範(fàn)圍. 所以本程式也是讓想要畫(huà)出資料樣本在平面的散佈情形者之一各可行工具.
上傳時(shí)間： 2016-08-19
上傳用戶：sy_jiadeyi
實(shí)現(xiàn)一套網(wǎng)路TCP/IP的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試程式...希望可以在多平臺(tái)下運(yùn)行
上傳時(shí)間： 2016-09-23
上傳用戶：xsnjzljj
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