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usb封包監(jiān)測(cè)程式,輔助usb程式轉(zhuǎn)寫時(shí)除錯(cuò)用..用看看吧~還不錯(cuò)啦~
標(biāo)簽： usb 程式
上傳時(shí)間： 2017-02-25
上傳用戶：gtf1207
VFD-A 內(nèi)部的參數(shù)資料可使用內(nèi)部 RS-485 串聯(lián)通訊介面，設(shè)定及修改並可控制交流電機(jī)驅(qū)動(dòng) 器運(yùn)轉(zhuǎn)及監(jiān)測(cè)交流電機(jī)驅(qū)動(dòng)器的運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)，可提高自動(dòng)化的能力。
標(biāo)簽： VFD-A 485 RS
上傳時(shí)間： 2013-12-24
上傳用戶：invtnewer
一直以來， 電子電路斷路器( E C B ) 都是由一個(gè)MOSFET、一個(gè) MOSFET 控制器和一個(gè)電流檢測(cè)電阻器所組成的。
標(biāo)簽： DFN 封裝 電子電路 斷路器
上傳時(shí)間： 2013-10-18
上傳用戶：qwerasdf
usb開發(fā)工具，封包監(jiān)測(cè)，數(shù)值驗(yàn)證與除錯(cuò)，監(jiān)看內(nèi)容可由使用者設(shè)定，不錯(cuò)用!!
標(biāo)簽： usb
上傳時(shí)間： 2014-11-23
上傳用戶：風(fēng)之驕子
網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控工具服務(wù)器端
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2015-01-19
上傳用戶：xcy122677
採(cǎi)用ROM監(jiān)控器的調(diào)試技巧分析
標(biāo)簽： ROM 分
上傳時(shí)間： 2015-02-23
上傳用戶：wfl_yy
影像中角落的偵測(cè)-主要是機(jī)器視覺當(dāng)中很重要的一環(huán) 因?yàn)榻锹涞母淖兓蚴亲兓梢詡蓽y(cè)出來當(dāng)做影像變化的特徵
上傳時(shí)間： 2013-12-29
上傳用戶：kernaling
這是一篇介紹藍(lán)芽收發(fā)器IC測(cè)試的相關(guān)文章,蠻有用的文章
上傳時(shí)間： 2013-12-14
上傳用戶：asdkin
ACDSEE9.0版的序號(hào)產(chǎn)生器 經(jīng)過測(cè)試 可以使用
標(biāo)簽： ACDSEE 9.0
上傳時(shí)間： 2016-01-28
上傳用戶：三人用菜
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
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