Numerical Integration 數學算法
標簽： Integration Numerical 算法
上傳時間： 2013-12-30
上傳用戶：lanjisu111
這是用 PIC 寫的利用感應大門轉速偵測大門是否碰到障礙物
標簽： PIC
上傳時間： 2013-12-08
上傳用戶：aig85
davincievm 6446 記憶體DDR撿測
標簽： davincievm 6446 DDR
上傳時間： 2016-08-09
上傳用戶：xlcky
davincievm 6446 音瀕檢測
標簽： davincievm 6446
上傳用戶：lgnf
java數學小遊戲 很好玩的喲 學習與娛樂并存
標簽： java 娛樂
上傳時間： 2016-08-11
上傳用戶：qq1604324866
資料壓縮技術與應用-變動長度編碼壓縮及解壓縮(Run Length Encoding) 整數採用固定長度一個位元組表示法 對於只出現一次的位元組S亦用iS取代
標簽： Encoding Length Run 表示法
上傳時間： 2016-08-15
上傳用戶：GavinNeko
資料壓縮技術與應用-變動長度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數採用固定長度一個位元組表示法~ 對於只出現一次的位元組S亦用iS取代~
上傳用戶：asdfasdfd
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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FFT代原碼為C++需要測過才能用，所有檔案階完整
標簽： FFT
上傳時間： 2016-08-17
上傳用戶：zhanditian
在做2維度樣本分類的過程中,若我們能事先畫出訓練樣本在空間中的分散情形,這將有助於我們在設定SVM分類器的參數C的取值範圍. 例如:若畫出的訓練樣本的散佈較分散,我們可以得知此時採用的參數值可以取在較大的範圍. 所以本程式也是讓想要畫出資料樣本在平面的散佈情形者之一各可行工具.
標簽： SVM 分 分散
上傳時間： 2016-08-19
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