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目標(biāo)檢測

  • pcb layout規(guī)則

    LAYOUT REPORT .............. 1   目錄.................. 1     1. PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)......... 2     2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用............ 2     3. 基準點 (光學點) -for SMD:........... 4     4. 標記 (LABEL ING)......... 5     5. VIA HOLE PAD................. 5     6. PCB Layer 排列方式...... 5     7.零件佈置注意事項 (PLACEMENT NOTES)............... 5     8. PCB LAYOUT 設計............ 6     9. Transmission Line ( 傳輸線 )..... 8     10.General Guidelines – 跨Plane.. 8     11. General Guidelines – 繞線....... 9     12. General Guidelines – Damping Resistor. 10     13. General Guidelines - RJ45 to Transformer................. 10     14. Clock Routing Guideline........... 12     15. OSC & CRYSTAL Guideline........... 12     16. CPU

    標簽: layout pcb

    上傳時間: 2013-10-29

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  • 快速瞭解ECLIPSE 目錄 序言· 一.Eclipse 簡介 二.Eclipse 組織 三.Eclipse 相關術語 四.Eclipse 平臺 五.EMF & GEF 介紹 六.關於

    快速瞭解ECLIPSE 目錄 序言· 一.Eclipse 簡介 二.Eclipse 組織 三.Eclipse 相關術語 四.Eclipse 平臺 五.EMF & GEF 介紹 六.關於Eclipse、SWT 和JFace 一個SWT 應用程式的基礎材料 基本控制項 標籤 文件 按鈕 事件監(jiān)聽器 複合控制項 Shell 佈局管理器 FillLayout GridLayout GridData 15 建立一個執(zhí)行程式 為什麼使用SWT 七.OSGI 簡介 Eclipse 資源 附錄1 SWT 的內(nèi)幕? 附錄2 相關網(wǎng)站 附錄3 外掛開發(fā)

    標簽: Eclipse ECLIPSE EMF GEF

    上傳時間: 2015-11-30

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  • OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN

    OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎上,結(jié)合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出,最終由IEEE批準並且標準化,所以,IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。

    標簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM

    上傳時間: 2016-08-16

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  • 然後稍微檢查一下 tcl、tck 的版本與路徑

    然後稍微檢查一下 tcl、tck 的版本與路徑,如果不同的話請自行將版本號改成跟目錄內(nèi)的版本號一樣。

    標簽: tcl tck 版本

    上傳時間: 2014-01-05

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  • 然後稍微檢查一下 tcl、tck 的版本與路徑

    然後稍微檢查一下 tcl、tck 的版本與路徑,如果不同的話請自行將版本號改成跟目錄內(nèi)的版本號一樣。

    標簽: tcl tck 版本

    上傳時間: 2013-12-30

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  • 高速電路設計 詳細基礎理論知識

    設計高速電路必須考慮高速訊 號所引發(fā)的電磁干擾、阻抗匹配及串音等效應,所以訊號完整性 (signal  integrity)將是考量設計電路優(yōu)劣的一項重要指標,電路日異複雜必須仰賴可 靠的軟體來幫忙分析這些複雜的效應,才比較可能獲得高品質(zhì)且可靠的設計, 因此熟悉軟體的使用也將是重要的研究項目之一。另外了解高速訊號所引發(fā)之 各種效應(反射、振鈴、干擾、地彈及串音等)及其克服方法也是研究高速電路 設計的重點之一。目前高速示波器的功能越來越多,使用上很複雜,必須事先 進修學習,否則無法全盤了解儀器之功能,因而無法有效發(fā)揮儀器的量測功能。 其次就是高速訊號量測與介面的一些測試規(guī)範也必須熟悉,像眼圖分析,探針 效應,抖動(jitter)測量規(guī)範及高速串列介面量測規(guī)範等實務技術,必須充分 了解研究學習,進而才可設計出優(yōu)良之教學教材及教具。

    標簽: 高速電路

    上傳時間: 2021-11-02

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  • I2C 總線8 位遠程I-O 擴展口芯片PCF8574 的原

    I2C 總線8 位遠程I-O 擴展口芯片PCF8574 的原

    標簽: 8574 I2C I-O PCF

    上傳時間: 2013-07-28

    上傳用戶:eeworm

  • I2C-總線8-位遠程I-O-擴展口芯片PCF8574-的原.rar

    專輯類----單片機專輯 I2C-總線8-位遠程I-O-擴展口芯片PCF8574-的原.rar

    標簽: 8574 I-O PCF

    上傳時間: 2013-06-04

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  • I2C-總線8-位遠程I-O-擴展口芯片PCF8574-的原.pdf

    專輯類-單片機專輯-258冊-4.20G I2C-總線8-位遠程I-O-擴展口芯片PCF8574-的原.pdf

    標簽: 8574 I-O PCF

    上傳時間: 2013-05-29

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  • 一種8 位I O口的單片機顯示器和鍵盤接口

    一種8 位I/O口的單片機顯示器和鍵盤接口

    標簽: 單片機 顯示器 鍵盤接口

    上傳時間: 2013-07-29

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