·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要，直接閱讀你所關(guān)注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括：設(shè)計核心，關(guān)注嵌入核心和嵌入存儲器；系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設(shè)計問題；AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設(shè)計；內(nèi)建、自測試、含內(nèi)存BIST、邏輯BIST及掃描BIST；虛擬測試套接字和隔離測試 ·重用設(shè)計，包括重用和隔離測試；用VSIA和IEEE P1500標(biāo)準(zhǔn)處理測試問題。 書中穿插的整幅圖解直接來自作者的教學(xué)材
標(biāo)簽：
數(shù)字集成電路
嵌入式
內(nèi)核
上傳時間：
2013-04-24
上傳用戶：sjb555
