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相干信號

pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經驗

PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD：在銲錫面上所設計之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER：單、雙層板之各層線路；多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER：通常指多層板之電源層。8. INNER PAD：多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD：多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍，不與零件腳相接。10. THERMAL PAD：多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD，一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊)：除了SMD PAD 外，其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點)，其原則如下：1. 一般測試點大小均為30-35mil，元件分布較密時，測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil，一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上，避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

標簽： layout design pcb 硬件工程師

上傳時間： 2013-11-17

上傳用戶：cjf0304
look1為電子看板的第二個芯片

look1為電子看板的第二個芯片，使用自制的握手信號與look通訊，可以進行數據傳送，以及控制16個數碼管顯示，此案例已成功用於生產現志，所用的元件很少，功能較大呢

標簽： look1 芯片

上傳時間： 2017-01-02

上傳用戶：han_zh
AVR ATmega48 SPI最簡單測試碼！透過spi_data[x]陣列寫入想要傳送的資料

AVR ATmega48 SPI最簡單測試碼！透過spi_data[x]陣列寫入想要傳送的資料，而x則是控制傳送第x筆數，而接腳輸出則在PortB的預設接腳內，只要修改spi_data就可以透過示波器看到SPI的信號了！

標簽： spi_data ATmega AVR SPI

上傳時間： 2014-06-09

上傳用戶：jcljkh
Verilog HDL的程式

Verilog HDL的程式，上網找到SPI程式， vspi.v這程式相當好用可用來接收與傳送SPI，並且寫了一個傳輸信號測試，spidatasent.v這程式就是傳送的資料，分別為00 66... 01 77...... 02 55這樣的資料，並透過MAX+PULS II軟體進行模擬，而最外層的程式是test_createspi.v！

標簽： Verilog HDL 程式

上傳時間： 2017-03-06

上傳用戶：onewq
東元TSDA伺服手冊

安裝塌所1、通凰良好少溫策及灰座之塌所。2、雜腐蝕性、引火性氛髓、油急、切削液、切前粉、戴粉等聚境。3、雜振勤的場所。4、雜水氟及踢光直射的場所。1、本距勤器探用自然封流冷御方式正隨安裝方向局垂直站立方式2、在配電箱中需考感溫升情況未連有效散熟及冷御效果需保留足豹的空固以取得充分的空氟。3、如想要使控制箱內溫度連到一致需增加凰扇等散熱毅倩。4、組裝睛廊注意避免贊孔屑及其他翼物掉落距勤器內。5、安裝睛請硫資以M5螺練固定。6、附近有振勤源時請使用振勤吸收器防振橡腥來作腐噩勤器的防振支撐。7、勤器附近有大型磁性陰嗣、熔接樓等雄部干援源睛，容易使距勤器受外界干攝造成誤勤作，此時需加裝雄部濾波器。但雍訊濾波器舍增加波漏電流，因此需在愿勤器的輸入端裝上經緣羹愿器（Transformer）。*配象材料依照使用電象規格]使用。*配象的喪度：指令輸入象3公尺以內。編碼器輸入綜20公尺以內。配象時請以最短距薄速接。*硫賞依照操單接象圈配象，未使用到的信貌請勿接出。*局連輸出端（端子U、V、W）要正硫的速接。否則伺服焉速勤作舍不正常。*隔雄綜必須速接在FG端子上。*接地請以使用第3砸接地（接地電阻值腐100Ω以下），而且必須罩黏接地。若希望易速輿械之周腐紀緣狀懲畸，請將連接地。*伺服距勤器的輸出端不要加裝電容器，或遇（突波）吸收器及雅訊濾波器。*裝在控制輸出信號的DC繼電器，其遏（突波）吸收用的二梗溜的方向要速接正硫，否則食造成故障，因而雜法輸出信猶，也可能影馨緊急停止的保渡迎路不座生作用。*腐了防止雍部造成的錯溪勤作，請探下列的威置：請在電源上加入經緣雯愿器及雅亂濾波器等裝置。請將勤力緣（雷源象、焉連緣等的蘊雷回路）奧信蔬緣相距30公分以上來配練，不要放置在同一配緣管內。

標簽： tsda

上傳時間： 2022-05-28

上傳用戶：zhanglei193
低信噪比環境下WCDMA小區搜索的FPGA實現

針對區域內多個小區普查的需求，對復雜環境下低信噪比WCDMA小區搜索進行了針對性改進，采用差分相干累積以及RS軟譯碼算法提高了低信噪比條件下WCDMA小區搜索性能并利用FPGA進行了工程實現，仿真計算和安捷倫E5515C的測試結果表明改進是有效的。

標簽： WCDMA FPGA 低信噪比環境

上傳時間： 2013-11-18

上傳用戶：wxqman
（1）請推導出單徑瑞利信道中的BPSK相干解調的理論誤碼率性能

（1）請推導出單徑瑞利信道中的BPSK相干解調的理論誤碼率性能，并畫出比特信噪比與誤碼率的關系曲線。（2）在單徑瑞利信道中，請設計一種時分的導引輔助的信道估計方法，用Simulink進行仿真，測量BPSK的誤碼率性能，畫出比特信噪比與誤碼率的關系曲線，并與(1)的曲線進行對比。

標簽： BPSK 信道解調性能

上傳時間： 2017-01-25

上傳用戶：a6697238
單片機實現短信收發程序

單片機實現短信收發程序，極品號程序呵呵，大家一起學習呀。

標簽： 短信程序

上傳時間： 2014-10-27

上傳用戶：zhouli
鎖模激光的相干多普勒激光雷達研究

這是一篇哈爾濱工業大學2012年物理電子學工學博士的畢業論文。相干多普勒激光雷達是測量遙感風場和運動目標速度的有力工具。相干多普勒激光雷達的發射源普遍使用單縱模激光器，而鎖模激光所具有的寬頻譜、窄脈寬、高峰值功率等特性使其在作為相干激光雷達發射源方面具有潛在的應用價值。本文從理論上和實驗上對基于鎖模激光的相干多普勒激光雷達進行了研究。理論上，在單頻外差探測原理的基礎上，考慮了具有 m+1 個模式、縱模間隔為 ω 的本振光，與發生了 Δω 頻移的信號光相干拍頻后的理論模型，證明了相位差恒定的鎖模激光可以實現相干混頻，并可以通過低通濾波或 FFT 頻譜分析的方式檢測出差頻信號。利用這一理論模型進行了數值模擬計算，分析了信號光在不同的頻移值時的拍頻波形，討論了實現相干探測本振光與信號光應滿足的條件。基于相干多普勒激光雷達系統對發射光源的要求，進行了鎖模激光器的實驗研究。通過使用不同的鎖模器件得到鎖模激光輸出，其中主動鎖模和調 Q 主動鎖模都獲得了單脈沖寬度在百皮秒量級、鎖模深度 100%、鎖模幾率 95%以上的穩定的鎖模脈沖序列輸出。對被動鎖模、主動鎖模、調 Q 主動鎖模的激光輸出特性進行了對比研究，主動鎖模脈沖序列包絡時間較長但峰值功率較低，而調 Q 主動鎖模峰值功率高但包絡時間較短，不同類型的激光輸出為后續的相干測速實驗提供了多種選擇。利用聲光移頻器模擬外差探測中信號光發生的多普勒頻移，進行了鎖模激光拍頻實驗研究，并與單縱模激光拍頻實驗結果進行了比較。使用鎖模激光在頻移為 30 ~ 80 MHz 的范圍內進行了拍頻實驗研究，拍頻波形及信號處理的結果均與理論分析相符，測量結果的相對誤差在 0.5%以下。分別使用脈寬為 10 ns和 16 ns 的調 Q 單縱模脈沖進行拍頻，在信號光頻移為 150 MHz 時測量結果的相對誤差分別為 3.7%和 1.6%。對比實驗結果發現，調 Q 單縱模脈沖由于有限的脈寬限制了拍頻后包絡的數量，導致誤差相對較大，而鎖模脈沖序列由于具有較長包絡時間，在測量較低頻移值時仍具有較高的精度，即測量低速目標時更具有優勢。在具有較長包絡時間的同時，鎖模激光還具有高峰值功率和窄脈寬的特點。使用光纖耦合的方式進行了相干拍頻實驗，得到了穩定的相干拍頻波形，FFT 頻譜分析的結果與設定值和理論分析相符。

標簽： 激光雷達

上傳時間： 2022-02-12

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光學相干層析光電探測系統研究

光學相干層析（Optical Coherence Tomography，OCT成像方法具有高分辨率，非接觸，無損傷等優點，應用前景十分廣闊。但其實用性受到成像速度和穩定性的限制，而成像速度和穩定性主要是受到掃描方式的限制，采用頻域快掃描延遲線可以解決這些問題。本裸題研究日的是為基于頻域快掃描延遲線的不同用途的光學相干層析成像系統中的信號探測電路設計提供理論依據和設計范例，為光學相干層析成像產業化提供參考依據。本文的研究內容主要包括以下幾個方面：（1）研制基于顎域快掃描延遲線參考臂的實用型OCT系統，在理論分析基礎上給出實際OCT系統中信號探測電路主要參數計算依據。（2）通過設計用于高散射介質成像的光源中心波長為1310nm的OCT系統信號探測電路，給出高分辨率，高信噪比OCT系統信號探測電路設計。（3）通過設計用于高吸收介質成像的光源中心波長為820mm的快速OCT系統信號探測電路，給出高成像速度OCT系統信號探測電路設計（4）對OCT系統進行測試，對不同樣品成像，驗證設計的信號探測電路能夠工作。本文中由理論分析得到采用頻域快掃描延遲線的OCT系統信號主要參數的計算公式為探測電路設計提供了理論依據：兩套OCT系統信號探測電路設計及實現不僅為OCT珠寶（珍珠）檢測和眼科檢測的實際應用提供可行性，同時還對不同用途、不回性能側重點的OCT系統信號探測電路設計具有一定的參考價值。關鍵詞光學相干層析：快掃描延遲線：光電探測：電路設計

標簽： 光學光電探測系統

上傳時間： 2022-03-14

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