本書是講述計(jì)算機(jī)JAVA的I/O流的書籍，這是下半章，將會(huì)比較詳細(xì)說(shuō)明I/O流
標(biāo)簽： JAVA 計(jì)算機(jī) 書籍
上傳時(shí)間： 2013-12-19
上傳用戶：小碼農(nóng)lz
本人上傳的是RSCODE1.O源程序C語(yǔ)言文件
標(biāo)簽： RSCODE C語(yǔ)言 源程序
上傳時(shí)間： 2016-08-14
上傳用戶：hoperingcong
用硬件為：可編程并行I/O接口8255A實(shí)現(xiàn)汽車信號(hào)燈控制情況公11種狀態(tài)（只含有代碼）
標(biāo)簽： 8255A 硬件 可編程 信號(hào)燈
上傳時(shí)間： 2013-12-18
上傳用戶：zhaiyanzhong
利用386保護(hù)模式將DOS實(shí)模式下的PC總線I/O操作（in/out）實(shí)時(shí)捕捉到內(nèi)存并可以顯示在屏幕上。可用于ISA/VESA/PCI插卡及相關(guān)軟件的輸入/輸出調(diào)試、I/O性能/行為分析和反匯編。Version 3增加了連續(xù)相同I/O操作的壓縮記錄功能，大大提高了內(nèi)存利用率。同時(shí)提供了一些編譯、測(cè)試腳本和BC3.1工程文件供大家在BC3.1下進(jìn)一步開發(fā)。
標(biāo)簽： VESA 386 DOS ISA
上傳時(shí)間： 2014-07-27
上傳用戶：一諾88
資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動(dòng)長(zhǎng)度編碼壓縮及解壓縮(Run Length Encoding) 整數(shù)採(cǎi)用固定長(zhǎng)度一個(gè)位元組表示法 對(duì)於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代
標(biāo)簽： Encoding Length Run 表示法
上傳時(shí)間： 2016-08-15
上傳用戶：GavinNeko
資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動(dòng)長(zhǎng)度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數(shù)採(cǎi)用固定長(zhǎng)度一個(gè)位元組表示法~ 對(duì)於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代~
上傳用戶：asdfasdfd
pdf文件密碼移除，功能非常強(qiáng)大，非常好用
標(biāo)簽： 密碼
上傳時(shí)間： 2014-08-29
上傳用戶：xfbs821
PDF密碼移除 應(yīng)該非常好用 希望大家會(huì)喜歡
標(biāo)簽： 密碼 家
上傳用戶：ggwz258
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理?；镜膬?nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
本程序?yàn)?005帶單片機(jī)課程設(shè)計(jì)時(shí)所寫,并有相關(guān)的硬件電路板 //本程序在硬件上測(cè)試通過(guò) //晶振為11.0592MHZ //程序中用單片機(jī)的P1口的I/O引腳做按鍵 //用四位一體的共陰數(shù)碼管顯示
標(biāo)簽： 11.0592 2005 程序 MHZ
上傳時(shí)間： 2016-08-18
上傳用戶：tuilp1a
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