本文介紹了O P207 雙極運(yùn)算放大器的60CoC射線、不同能量電子和質(zhì)子的輻照試驗(yàn)以及60CoC和電子輻射損傷在室溫和100℃高溫條件下的退火效應(yīng), 揭示了雙極運(yùn)算放大器電參數(shù)對(duì)不同射線的輻照響應(yīng)規(guī)律; 研究了不同輻射源對(duì)雙極運(yùn)算放大器的不同輻射損傷機(jī)理; 并對(duì)質(zhì)子輻照損傷程度與能量的依賴關(guān)系以及質(zhì)子輻照損傷同60CoC和電子輻照損傷的差異進(jìn)了探討. 結(jié)果表明, 界面態(tài)的產(chǎn)生是60CoC和電子輻照損傷的主要原因, 而位移效應(yīng)造成的體損傷在質(zhì)子輻照效應(yīng)中占有重要地位.
標(biāo)簽：
雙極
運(yùn)算放大器
輻射效應(yīng)
上傳時(shí)間：
2013-11-12
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