灰色理論下之最基本操作元，灰生成之matlab源碼，可很快計(jì)算出數(shù)據(jù)各階之生成結(jié)果
標(biāo)簽： 基本操作
上傳時間： 2013-12-01
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HAMMING CODE在偵錯及更正的原理實(shí)現(xiàn)，達(dá)到較快速的結(jié)果，浪費(fèi)資源較少
上傳時間： 2015-12-05
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本書分為上篇、中篇和下篇三個部分，上篇為Windows CE結(jié)構(gòu)分析，中篇為Windows CE情景分析，下篇為實(shí)驗(yàn)手冊。每一篇又劃分為若 干章。上篇包含有引言，Windows CE體系結(jié)構(gòu)，處理 器排程，儲存管理 ，檔案系統(tǒng)和設(shè)備管理 等六 章。中篇包含有系統(tǒng)初始化，處理 器排程過程，分頁處理 ，檔案處理 和驅(qū)動器載入等五章。下篇包含有Windows CE應(yīng)用程式開發(fā)，Windows CE系統(tǒng)開發(fā)，評測與總結(jié)以及實(shí)習(xí)等四章。 上篇的重點(diǎn)在於分析Windows CE kernel的結(jié)構(gòu)以及工作原理 。這個部分是掌握Windows CE作業(yè)系統(tǒng)的基礎(chǔ)。 中篇重點(diǎn)在於分析Windows CE kernel的實(shí)際運(yùn)行 過程。如果說 上篇是從靜態(tài)的角度 分析Windows CE kernel，那麼中篇則是試圖從動態(tài)的角度 給讀 者一個有關(guān)Windows CE kernel的描述。希望讀 者能夠通過對中篇的閱讀 理 解，在頭腦中形成有關(guān)Windows CE kernel的多方位的運(yùn)作情景。 下篇著重於有關(guān)Windows CE的應(yīng)用。對理 論 的掌握最終要應(yīng)用到實(shí)務(wù)中。
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上傳時間： 2013-12-23
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上傳時間： 2016-03-04
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OPNET的介紹電子書，包含模組的創(chuàng)見和連結(jié)、網(wǎng)路協(xié)定的設(shè)計(jì)等介紹
標(biāo)簽： OPNET
上傳時間： 2014-01-08
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JavaScript 和Java 除了在名字上有一點(diǎn)類似之外，JavaScript 也支援部分Java 的語法及基本的流程控制結(jié)構(gòu)。不過，除此之外， 這兩者有結(jié)構(gòu)性的差異。
標(biāo)簽： JavaScript Java
上傳時間： 2016-05-28
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產(chǎn)生頻率選擇性衰落的雷利通道，參數(shù)由天線結(jié)構(gòu)、OFDM系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)與功率延時結(jié)構(gòu)來決定。
標(biāo)簽：
上傳時間： 2014-12-20
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求二元一次方程式有幾解，並印出所有答案；轉(zhuǎn)換攝氏、華氏及凱氏溫度；臺灣身分證檢查器
上傳時間： 2016-07-06
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執(zhí)行步驟1: 執(zhí)行EX1126程式進(jìn)入學(xué)生考試系統(tǒng) 權(quán)限描述: 使用者查詢:於”姓名”中輸入”Arno”,於”學(xué)號”中輸入”good”,再按下”使用者查詢” 即可查詢. 修改使用者:於”姓名”中輸入”GUEST”,於”學(xué)號”中輸入”0000”,再按下” 修改使用者即可修改: 功能描述: 使用者開始考試,於”姓名”中輸入自己的姓名,於”學(xué)號”中輸入學(xué)號,再按下” 考試去”即可: 開始考試,同時系統(tǒng)紀(jì)錄考生狀態(tài)為”1”. 使用者考試,完成後按下”結(jié)算成績”,同時系統(tǒng)顯示紀(jì)錄考生該科分?jǐn)?shù),同時清除考生登入狀態(tài),使其無法重覆考試,老師並可查詢考生成績.
上傳時間： 2016-07-31
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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