OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱(chēng)。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱(chēng)JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
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EN55032:2010,emc測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)簽： 55032 EN
上傳時(shí)間： 2020-12-01
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內(nèi)含fulladder結(jié)構(gòu)檔,電路檔,測(cè)試檔(testbench)以及執(zhí)行檔(.do)
標(biāo)簽： fulladder testbench do
上傳時(shí)間： 2016-11-25
上傳用戶(hù)：wxhwjf
Arduino 類(lèi)比電壓的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程式，利用讀取類(lèi)比電壓的值來(lái)控制led閃爍的頻率，文中有詳細(xì)的描述與介紹說(shuō)明。
標(biāo)簽： Arduino 程式
上傳時(shí)間： 2013-12-20
上傳用戶(hù)：hewenzhi
Arduino 數(shù)位I/O的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程式，利用讀取輸入的數(shù)位訊來(lái)控制輸出的數(shù)位訊號(hào)，文中有詳細(xì)的描述與介紹說(shuō)明。
上傳時(shí)間： 2017-05-23
上傳用戶(hù)：6546544
GSMGPRSRFORUM相關(guān)信息測(cè)試與結(jié)過(guò)
標(biāo)簽： GSMGPRSRFORUM
上傳時(shí)間： 2015-05-20
上傳用戶(hù)：jqy_china
本程式是使用C++寫(xiě)單片機(jī)的軔體程式, 可以和PC做串列埠COM port通訊, 也結(jié)合I2C通訊標(biāo)準(zhǔn), 將接收的資料燒錄傳輸至硬件IC 24C16
標(biāo)簽： 24C16 port COM I2C
上傳時(shí)間： 2013-12-17
USB是PC體系中的一套全新的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，它支持單個(gè)主機(jī)與多個(gè)外接設(shè)備同時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。 首先會(huì)介紹USB的結(jié)構(gòu)和特點(diǎn)，包括總線特徵、協(xié)議定義、傳輸方式和電源管理等等。這部分內(nèi)容會(huì)使USB開(kāi)發(fā)者和用戶(hù)對(duì)USB有一整體的認(rèn)識(shí)。
標(biāo)簽： USB
上傳時(shí)間： 2015-10-18
上傳用戶(hù)：lixinxiang
以ASAP光學(xué)模擬軟體來(lái)設(shè)計(jì)及建構(gòu)顯示器背光源模組,並測(cè)試其可行性
標(biāo)簽： ASAP 模 可行性 背光源
上傳時(shí)間： 2015-11-13
上傳用戶(hù)：lacsx
這一篇論文的標(biāo)題為「比較編碼和未編碼縱向和橫向?qū)訝罱Y(jié)構(gòu)的MIMO-OFDM系統(tǒng)」是2007發(fā)表的
標(biāo)簽： MIMO-OFDM 2007 系統(tǒng)
上傳時(shí)間： 2013-12-25
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