數(shù)字存儲器和混合信號超大規(guī)模集成電路
本書系統(tǒng)地介紹了數(shù)字、存儲器和混合信號VLSI系統(tǒng)的測試和可測試性設(shè)計(jì)。該書是根據(jù)作者多年的科研成果和教學(xué)實(shí)踐，結(jié)合國際上關(guān)注的最新研究熱點(diǎn)并參考大量的文獻(xiàn)撰寫的。全書共分三個(gè)部分。第一部分是測試基礎(chǔ)，介紹了測試基本概念、測試設(shè)備、測試經(jīng)濟(jì)學(xué)和故障模型。第二部分是測試方法，詳細(xì)論述了組合和時(shí)序電路的測試生成、存儲器測試、基于DSP和基于模塊的模擬與混合信號測試、延遲測試和IDDQ測試等。第三部分是可測試性設(shè)計(jì)，包括掃描設(shè)計(jì)、BIST、邊界掃描測試、模擬測試總線標(biāo)準(zhǔn)和基于IP芯核的SOC（System on a chip）測試。
