OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
AU1200 所用的 JPEG2000 , 改了很久 ,才測(cè)試成功 , 非常稀少 , 需要的人可以下來(lái)玩玩看
標(biāo)簽： 1200 2000 JPEG AU
上傳時(shí)間： 2016-10-05
上傳用戶：569342831
一個(gè)及基本使用BCB控制RS-232的測(cè)試燈號(hào)控制Source Code，入門者推薦
標(biāo)簽： Source Code BCB 232
上傳時(shí)間： 2016-10-07
上傳用戶：凌云御清風(fēng)
內(nèi)含fulladder結(jié)構(gòu)檔,電路檔,測(cè)試檔(testbench)以及執(zhí)行檔(.do)
標(biāo)簽： fulladder testbench do
上傳時(shí)間： 2016-11-25
上傳用戶：wxhwjf
Visual Basic modbus連線測(cè)試程式
標(biāo)簽： Visual modbus Basic 程式
上傳時(shí)間： 2013-12-19
上傳用戶：米卡
Software Testing - A Craftman. This is a good software testing book for studying. 這是一個(gè)很好的軟件測(cè)試書(shū)籍學(xué)習(xí)
標(biāo)簽： Software Craftman software studying
上傳時(shí)間： 2014-01-24
上傳用戶：zm7516678
TEST測(cè)試上傳...T EST測(cè)試上傳...TEST測(cè)試上傳
標(biāo)簽： TEST EST
上傳時(shí)間： 2017-01-04
上傳用戶：jeffery
以ARM CPU為主的MP3開(kāi)發(fā)源碼 經(jīng)過(guò)測(cè)試是OK的
標(biāo)簽： ARM CPU MP3
上傳時(shí)間： 2017-01-29
上傳用戶：ljmwh2000
這是一個(gè)讓初學(xué)者測(cè)試的小檔案!好讓初學(xué)者可以有成就感
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2014-02-01
上傳用戶：1966640071
cc2430光敏測(cè)試程式，可從串口看到測(cè)得的光敏值
標(biāo)簽： 2430 cc 光敏 程式
上傳時(shí)間： 2013-12-18
上傳用戶：caozhizhi
蟲(chóng)蟲(chóng)下載站版權(quán)所有 京ICP備2021023401號(hào)-1
