文中簡單闡述了紅外輻射機理,論述了紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展狀況。紅外成像系統(tǒng),尤其是紅外焦平面陣列,由于探測器材料和制造工藝的原因,各像素點之間的靈敏度存在差別,甚至存在一些缺陷點,各個探測單元特征參數(shù)不完全一致,因而存在著較大的非均勻性,降低了圖像的分辨率,影響了紅外成像系統(tǒng)的有效作用距離。實時非均勻性校正是提高和改善紅外圖像質(zhì)量的一項重要技術(shù)。 論文建立了描述其非均勻性的數(shù)學(xué)模型,分析了紅外焦平面陣列非均勻性產(chǎn)生的原因及特點,討論了幾種常用的非均勻性校正的方法,指出了其各自的優(yōu)缺點和適應(yīng)場合。 根據(jù)紅外探測器光譜響應(yīng)的特點和基于參考源的兩點溫度非均勻性校正理論,采用FPGA+DSP實現(xiàn)紅外成像系統(tǒng)實時非均勻性兩點校正,設(shè)計完成了相應(yīng)的紅外焦平面陣列非均勻性校正硬件電路。對該系統(tǒng)中各個模塊的功能及電路實現(xiàn)進行了詳細的描述,并給出了相應(yīng)的結(jié)構(gòu)框圖。同時給出了該圖像處理器的部分軟件流程圖。該方法動態(tài)范圍大而且處理速度快,適用于紅外成像系統(tǒng)實時的圖像處理場合。實踐表明,該方案取得了較為滿意的結(jié)果。
上傳時間: 2013-04-24
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在pcb設(shè)計中,對于可制造性設(shè)計需要認真對待,值得大家學(xué)習(xí)
上傳時間: 2013-06-07
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·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要,直接閱讀你所關(guān)注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括:設(shè)計核心,關(guān)注嵌入核心和嵌入存儲器;系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設(shè)計問題;AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設(shè)計;內(nèi)建、自測試、含內(nèi)存BIST、邏輯BIST及掃描BIST;虛擬測試套接字和隔離測試 ·重用設(shè)計,包括重用和隔離測試;用VSIA和IEEE P1500標準處理測試問題。 書中穿插的整幅圖解直接來自作者的教學(xué)材
標簽: 數(shù)字集成電路 嵌入式 內(nèi)核
上傳時間: 2013-04-24
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fpga的理解性word,對設(shè)計有幫助,延遲,效率問題等
上傳時間: 2013-08-24
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FPGA和DSP的設(shè)計可靠性及可維護性對比.pdf
上傳時間: 2013-08-28
上傳用戶:pei5
電路仿真不僅應(yīng)用于電路設(shè)計階段,也用于電路故障診斷中。電路仿真結(jié)果能夠為建立電路測試診斷知識庫提供重要的參考信息。本文簡要介紹了電路仿真收斂性的相關(guān)理論,分析了板級模擬電路直流分析和瞬態(tài)分析的仿真收斂性問題,深入探討了電路仿真技術(shù)的原理和發(fā)展,重點研究了新的電路仿真算法,并將其應(yīng)用于模擬電路仿真系統(tǒng)中。
上傳時間: 2014-12-23
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數(shù)字容性隔離器的應(yīng)用環(huán)境通常包括一些大型電動馬達、發(fā)電機以及其他產(chǎn)生強電磁場的設(shè)備。暴露在這些磁場中,可引起潛在的數(shù)據(jù)損壞問題,因為電勢(EMF,即這些磁場形成的電壓)會干擾數(shù)據(jù)信號傳輸。由于存在這種潛在威脅,因此許多數(shù)字隔離器用戶都要求隔離器具備高磁場抗擾度 (MFI)。許多數(shù)字隔離器技術(shù)都聲稱具有高 MFI,但容性隔離器卻因其設(shè)計和內(nèi)部結(jié)構(gòu)擁有幾乎無窮大的MFI。本文將對其設(shè)計進行詳細的介紹。
上傳時間: 2013-10-26
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本電路提供一種擴展AD7745/AD7746容性輸入范圍的方法。同時,還說明如何充分利用片內(nèi)CapDAC,使范圍擴展系數(shù)最小,從而優(yōu)化電路,實現(xiàn)最佳性能。AD7745具有一個電容輸入通道,AD7746則有兩個通道。每個通道均可配置為單端輸入或差分輸入方式。
上傳時間: 2013-11-21
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電位計訊號轉(zhuǎn)換器 AT-PM1-P1-DN-ADL 1.產(chǎn)品說明 AT系列轉(zhuǎn)換器/分配器主要設(shè)計使用于一般訊號迴路中之轉(zhuǎn)換與隔離;如 4~20mA、0~10V、熱電偶(Type K, J, E, T)、熱電阻(Rtd-Pt100Ω)、荷重元、電位計(三線式)、電阻(二線式)及交流電壓/電流等訊號,機種齊全。 此款薄型設(shè)計的轉(zhuǎn)換器/分配器,除了能提供兩組訊號輸出(輸出間隔離)或24V激發(fā)電源供傳送器使用外,切換式電源亦提供了安裝的便利性。上方并設(shè)計了電源、輸入及輸出指示燈及可插拔式接線端子方便現(xiàn)場施工及工作狀態(tài)檢視。 2.產(chǎn)品特點 可選擇帶指撥開關(guān)切換,六種常規(guī)輸出信號0-5V/0~10V/1~5V/2~10V/4~20mA/ 0~20mA 可自行切換。 雙回路輸出完全隔離,可選擇不同信號。 設(shè)計了電源、輸入及輸出LED指示燈,方便現(xiàn)場工作狀態(tài)檢視。 規(guī)格選擇表中可指定選購0.1%精度 17.55mm薄型35mm導(dǎo)軌安裝。 依據(jù)CE國際標準規(guī)范設(shè)計。 3.技術(shù)規(guī)格 用途:信號轉(zhuǎn)換及隔離 過載輸入能力:電流:10×額定10秒 第二組輸出:可選擇 輸入范圍:P1:0 Ω ~ 50.0 Ω / ~ 2.0 KΩ P2:0 Ω ~ 2.0 KΩ / ~ 100.0 KΩ 精確度: ≦±0.2% of F.S. ≦±0.1% of F.S. 偵測電壓:1.6V 輸入耗損: 交流電流:≤ 0.1VA; 交流電壓:≤ 0.15VA 反應(yīng)時間: ≤ 250msec (10%~90% of FS) 輸出波紋: ≤ ±0.1% of F.S. 滿量程校正范圍:≤ ±10% of F.S.,2組輸出可個別調(diào)整 零點校正范圍:≤ ±10% of F.S.,2組輸出可個別調(diào)整 隔離:AC 2.0 KV 輸出1與輸出2之間 隔離抗阻:DC 500V 100MΩ 工作電源: AC 85~265V/DC 100~300V, 50/60Hz 或 AC/DC 20~56V (選購規(guī)格) 消耗功率: DC 4W, AC 6.0VA 工作溫度: 0~60 ºC 工作濕度: 20~95% RH, 無結(jié)露 溫度系數(shù): ≤ 100PPM/ ºC (0~50 ºC) 儲存溫度: -10~70 ºC 保護等級: IP 42 振動測試: 1~800 Hz, 3.175 g2/Hz 外觀尺寸: 94.0mm x 94.0mm x 17.5mm 外殼材質(zhì): ABS防火材料,UL94V0 安裝軌道: 35mm DIN導(dǎo)軌 (EN50022) 重量: 250g 安全規(guī)范(LVD): IEC 61010 (Installation category 3) EMC: EN 55011:2002; EN 61326:2003 EMI: EN 55011:2002; EN 61326:2003 常用規(guī)格:AT-PM1-P1-DN-ADL 電位計訊號轉(zhuǎn)換器,一組輸出,輸入范圍:0 Ω ~ 50.0 Ω / ~ 2.0 KΩ,輸出一組輸出4-20mA,工作電源AC/DC20-56V
標簽: 電位計 訊號 轉(zhuǎn)換器
上傳時間: 2013-11-05
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各研究機構(gòu)提出了像素補償電路用于改善OLED的均勻性和穩(wěn)定性等問題,文中對目前采用有源OLED的α-Si TFT和p-Si TFT的各種像素補償電路進行了分析。分析結(jié)果表明,文中設(shè)計方案取得了一定的效果,但尚存不足。
上傳時間: 2013-11-21
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