文章運(yùn)用分級(jí)抽取和多相濾波的方法改進(jìn)傳統(tǒng)CIC濾波器的結(jié)構(gòu),降低了系統(tǒng)工作頻率,運(yùn)用幅度改進(jìn)函數(shù)(ACF)和外加級(jí)聯(lián)余弦預(yù)濾波器的技術(shù)改進(jìn)了濾波器頻率響應(yīng),提出了一種高效的算法結(jié)構(gòu),改善了通帶損耗,增大了阻帶衰減,對(duì)CIC濾波器的實(shí)際應(yīng)用和深入研究有著現(xiàn)實(shí)意義。
上傳時(shí)間： 2014-01-06
上傳用戶(hù)：cccole0605
介紹數(shù)字鎖相環(huán)的基本結(jié)構(gòu),詳細(xì)分析基于FPGA的數(shù)字鎖相環(huán)的鑒相器、環(huán)路濾波器、壓控振蕩器各部分的實(shí)現(xiàn)方法,并給出整個(gè)數(shù)字鎖相環(huán)的實(shí)現(xiàn)原理圖。仿真結(jié)果表明,分析合理,設(shè)計(jì)正確。
標(biāo)簽： FPGA 數(shù)字鎖相環(huán) 分 基本結(jié)構(gòu)
上傳時(shí)間： 2016-08-12
上傳用戶(hù)：xiaoyunyun
基于PL3000芯片的單相復(fù)費(fèi)率多功能電表的應(yīng)用程序。
上傳時(shí)間： 2016-08-15
上傳用戶(hù)：xsnjzljj
一個(gè)二階鎖相環(huán)的SIMULINK仿真模型
標(biāo)簽： SIMULINK 二階 鎖相環(huán) 仿真模型
上傳時(shí)間： 2013-12-20
上傳用戶(hù)：yuzsu
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱(chēng)。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱(chēng)JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶(hù)：sssl
FFT代原碼為C++需要測(cè)過(guò)才能用，所有檔案階完整
標(biāo)簽： FFT
上傳時(shí)間： 2016-08-17
上傳用戶(hù)：zhanditian
關(guān)於PHOTONIC CRYSTAL 之軟件模擬相關(guān)講義與說(shuō)明
上傳時(shí)間： 2014-08-13
上傳用戶(hù)：huyiming139
用C語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)的兩矩陣相成的程序，兩矩陣可自由輸入其內(nèi)的數(shù)據(jù)，相乘之后實(shí)現(xiàn)打印數(shù)組。
上傳時(shí)間： 2016-08-19
上傳用戶(hù)：2404
VHDL編寫(xiě)的ADI鎖相環(huán)控制程序，可以調(diào)試ADI鎖相環(huán)的相關(guān)系列十幾個(gè)型號(hào)。引腳命名和鎖相環(huán)相關(guān)控制引腳對(duì)應(yīng)。
上傳時(shí)間： 2016-08-20
上傳用戶(hù)：gut1234567
相息圖matlab代碼，結(jié)果含原圖，相息圖，再現(xiàn)圖三部分。
上傳時(shí)間： 2016-08-20
上傳用戶(hù)：jackgao
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