資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動(dòng)長度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數(shù)採用固定長度一個(gè)位元組表示法~ 對於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代~
標(biāo)簽： Encoding Length Run 表示法
上傳時(shí)間： 2016-08-15
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資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用~霍夫曼編碼壓縮及解壓縮(Huffman Coding)~資料結(jié)構(gòu)：霍夫曼樹，結(jié)構(gòu)struct
標(biāo)簽： Huffman Coding
上傳時(shí)間： 2014-07-18
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這是一個(gè)LIN總線控制的芯片，是中文說明的。希望有朋友需要的，拿來用。
標(biāo)簽： LIN 總線控制 芯片
上傳時(shí)間： 2013-12-09
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
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ｖｅｒｉｌｏｇ實(shí)現(xiàn)算術(shù)運(yùn)算後利用7段顯示器將結(jié)果輸出
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2014-01-05
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GPL162001的RTC模組demo程式
標(biāo)簽： 162001 demo GPL RTC
上傳時(shí)間： 2013-12-03
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GPL162001的UART模組demo程式
標(biāo)簽： 162001 UART demo GPL
上傳時(shí)間： 2013-12-28
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LIN總線的串行通信源程序 通過編譯成功
標(biāo)簽： LIN 總線 串行通信 源程序
上傳時(shí)間： 2016-09-22
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基于FREESCALE單片機(jī)9S08DZ60的LIN主節(jié)點(diǎn)的應(yīng)用層源代碼.LIN是通過UART串口來實(shí)現(xiàn)的.
標(biāo)簽： FREESCALE LIN UART S08
上傳時(shí)間： 2016-09-25
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基于FREESCALE單片機(jī)9S08DZ60的LIN從節(jié)點(diǎn)的應(yīng)用層源代碼.LIN是通過UART串口來實(shí)現(xiàn)的.開發(fā)環(huán)境為CODEWARRIOR FOR HC08
標(biāo)簽： CODEWARRIOR FREESCALE LIN 08
上傳時(shí)間： 2014-11-24
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