OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎(chǔ)上,結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出,最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化,所以,IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間: 2016-08-16
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FFT代原碼為C++需要測過才能用,所有檔案階完整
標(biāo)簽: FFT
上傳時間: 2016-08-17
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學(xué)生信息管理系統(tǒng),學(xué)生入學(xué)時間及畢業(yè)時間,學(xué)生成績,學(xué)生所在系
標(biāo)簽: 信息管理系統(tǒng) 畢業(yè)
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AT91SAM7X系A(chǔ)RM系統(tǒng)開發(fā)功能測試程序,如果你著手用AT91SAM來進(jìn)行系統(tǒng)開發(fā),這是確實(shí)是個很好的資料,有了他,會助你一臂之力.本源碼是ADS1.2下的源碼,用于AIC功能測試
標(biāo)簽: SAM AT 91 SAM7
上傳時間: 2014-01-14
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AT91SAM7X系A(chǔ)RM系統(tǒng)開發(fā)功能測試程序,如果你著手用AT91SAM來進(jìn)行系統(tǒng)開發(fā),這是確實(shí)是個很好的資料,有了他,會助你一臂之力.本源碼是ADS1.2下的源碼,用于CAN功能測試
上傳時間: 2016-08-18
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上傳時間: 2014-09-06
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上傳時間: 2013-12-23
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上傳時間: 2013-12-20
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