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角點檢測

pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經驗

PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD：在銲錫面上所設計之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER：單、雙層板之各層線路；多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER：通常指多層板之電源層。8. INNER PAD：多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD：多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍，不與零件腳相接。10. THERMAL PAD：多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD，一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊)：除了SMD PAD 外，其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點)，其原則如下：1. 一般測試點大小均為30-35mil，元件分布較密時，測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil，一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上，避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

標簽： layout design pcb 硬件工程師

上傳時間： 2013-10-22

上傳用戶：pei5
小型DFN封裝的電子電路斷路器免除了檢測電阻器

一直以來，電子電路斷路器( E C B ) 都是由一個MOSFET、一個 MOSFET 控制器和一個電流檢測電阻器所組成的。

標簽： DFN 封裝電子電路斷路器

上傳時間： 2013-10-18

上傳用戶：qwerasdf
pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經驗

PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD：在銲錫面上所設計之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER：單、雙層板之各層線路；多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER：通常指多層板之電源層。8. INNER PAD：多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD：多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍，不與零件腳相接。10. THERMAL PAD：多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD，一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊)：除了SMD PAD 外，其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點)，其原則如下：1. 一般測試點大小均為30-35mil，元件分布較密時，測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil，一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上，避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

標簽： layout design pcb 硬件工程師

上傳時間： 2013-11-17

上傳用戶：cjf0304
一個功放擴大器的程序

一個功放擴大器的程序，MCU是AT89C2051 帶有遙控器接收功能及音量控制PT2259 編碼器的檢測

標簽： 程序

上傳時間： 2013-12-13

上傳用戶：himbly
Google 推出一套免費的 Web 安全評估工具

Google 推出一套免費的 Web 安全評估工具，叫做 ratproxy，這套工具可以檢測、分析您的網站是否有安全性漏洞或網頁是否有被入侵，目前可支援 Linux, FreeBSD, MacOS X, 與 Windows (Cygwin) 等執行環境（反正就是 Unix-like 的環境啦）。 RatProxy 可偵測到的漏洞包括 Cross-site Scripting (XSS, 跨網站指令碼)、指令碼惡意置入(script inclusion issues), 惡意網頁內容(content serving problems), insufficient XSRF 以及 XSS 防護(XSS defenses) 等。

標簽： Google Web

上傳時間： 2016-09-30

上傳用戶：LouieWu
Windows系統入侵檢測管理流程

這份資安事件應變小抄，專給想要調查安全事件的網管人員。記?。好鎸κ录r，跟著資安事件應變方法的流程，記下記錄不要驚慌。如果需要請立刻聯絡臺

標簽： Windows 系統流程

上傳時間： 2020-10-13

上傳用戶：
利用角椎體原理來做影像導航只需要三個共同地標點即可以定位

利用角椎體原理來做影像導航只需要三個共同地標點即可以定位

標簽： 定位

上傳時間： 2014-01-10

上傳用戶：sevenbestfei
NANDFLASH ECC檢查碼測試程式

NANDFLASH ECC檢查碼測試程式

標簽： NANDFLASH ECC 程式

上傳時間： 2017-03-19

上傳用戶：lizhizheng88
本書分為上篇、中篇和下篇三個部分

本書分為上篇、中篇和下篇三個部分，上篇為Windows CE結構分析，中篇為Windows CE情景分析，下篇為實驗手冊。每一篇又劃分為若干章。上篇包含有引言，Windows CE體系結構，處理器排程，儲存管理，檔案系統和設備管理等六章。中篇包含有系統初始化，處理器排程過程，分頁處理，檔案處理和驅動器載入等五章。下篇包含有Windows CE應用程式開發，Windows CE系統開發，評測與總結以及實習等四章。上篇的重點在於分析Windows CE kernel的結構以及工作原理。這個部分是掌握Windows CE作業系統的基礎。中篇重點在於分析Windows CE kernel的實際運行過程。如果說上篇是從靜態的角度分析Windows CE kernel，那麼中篇則是試圖從動態的角度給讀者一個有關Windows CE kernel的描述。希望讀者能夠通過對中篇的閱讀理解，在頭腦中形成有關Windows CE kernel的多方位的運作情景。下篇著重於有關Windows CE的應用。對理論的掌握最終要應用到實務中。

標簽： 分

上傳時間： 2013-12-23

上傳用戶：FreeSky
跟類神經網路有點像的東西

跟類神經網路有點像的東西，不過現今最常拿來就是做分類也就是說，如果我有一堆已經分好類的東西（可是分類的依據是未知的?。?，那當收到新的東西時， SVM 可以預測 (predict) 新的資料要分到哪一堆去。

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上傳時間： 2014-01-18

上傳用戶：hasan2015