自己在學(xué)習(xí)編譯原理時(shí)用vc++寫(xiě)的算符優(yōu)先分析器，學(xué)習(xí)算符優(yōu)先分析器的好例子，比較簡(jiǎn)單，適合課程設(shè)計(jì)使用。
標(biāo)簽： vc 編譯原理 分析器
上傳時(shí)間： 2013-12-28
上傳用戶(hù)：lanhuaying
利用C8051F040操作內(nèi)部FLASH讀寫(xiě)程序
標(biāo)簽： C8051F040 FLASH 操作 讀寫(xiě)程序
上傳時(shí)間： 2013-12-20
上傳用戶(hù)：ztj182002
利用熱電偶轉(zhuǎn)換器的單片機(jī)溫度測(cè)控系統(tǒng)原理及應(yīng)用部結(jié)構(gòu)圖熱電偶放大與數(shù)字轉(zhuǎn)換器
標(biāo)簽： 用熱電偶 單片機(jī) 溫度測(cè)控 放大
上傳時(shí)間： 2016-08-10
上傳用戶(hù)：dongbaobao
提供tiff檔案的讀取與轉(zhuǎn)換！內(nèi)含lib與dll及標(biāo)題檔等資料供設(shè)計(jì)者參考！
標(biāo)簽： tiff lib dll
上傳時(shí)間： 2016-08-11
上傳用戶(hù)：王小奇
編譯原理第二個(gè)試驗(yàn)用算符優(yōu)先分析算法試驗(yàn)文法的分析功能
標(biāo)簽： 編譯原理 分析算法 分
上傳時(shí)間： 2013-12-27
上傳用戶(hù)：開(kāi)懷常笑
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱(chēng)。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱(chēng)JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶(hù)：sssl
內(nèi)容為DEV C++物件導(dǎo)向程式設(shè)計(jì)的PPT,說(shuō)明淺顯易懂,希望對(duì)各位有所幫助
標(biāo)簽： DEV 程式
上傳時(shí)間： 2014-08-09
上傳用戶(hù)：qunquan
此程序用于實(shí)現(xiàn)編譯原理中算符優(yōu)先文法中算符優(yōu)先函數(shù)算法，用戶(hù)輸入不大于10的數(shù)字后，即可進(jìn)行相應(yīng)個(gè)數(shù)的算符優(yōu)先函數(shù)計(jì)算。
標(biāo)簽： 程序 函數(shù) 編譯原理 算法
上傳時(shí)間： 2013-12-01
上傳用戶(hù)：saharawalker
使用微機(jī)電 (MEMS) 設(shè)計(jì) Data Acquisition System
標(biāo)簽： Acquisition System MEMS Data
上傳時(shí)間： 2013-12-25
上傳用戶(hù)：二驅(qū)蚊器
介紹遺傳算得原理及應(yīng)用，包括，車(chē)間調(diào)度問(wèn)題，函數(shù)優(yōu)化，最短路徑問(wèn)題等
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2014-11-27
上傳用戶(hù)：fandeshun
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