九十三學(xué)年 度 全國大學(xué)校院嵌入式軟體設(shè)計(jì)競(jìng)賽 多媒體組決賽報(bào)告書 具效能與耗電可調(diào)適性之智慧型數 位相機(jī)
標(biāo)簽： 63886 63849 64001 嵌入式
上傳時(shí)間： 2014-11-29
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家具行業(yè)的成本核算報(bào)價(jià)系統(tǒng),主要征對(duì)家個(gè)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)展開進(jìn)行材料成本及人工制造費(fèi)用統(tǒng)計(jì),加上可調(diào)節(jié)的利潤設(shè)定,將其成本核算出來,同時(shí)將報(bào)價(jià)單作出來
標(biāo)簽： 家 成本核算 人工 制造
上傳時(shí)間： 2014-01-21
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VHDL 開發(fā)PCI加密解密卡 逢甲大學(xué) 資訊工程學(xué)系專題報(bào)告 PCI 介面之加解密卡製作
標(biāo)簽： PCI VHDL 加密 解密
上傳時(shí)間： 2016-01-21
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arm學(xué)習(xí)報(bào)告第二章 GNU Tools
標(biāo)簽： Tools arm GNU
上傳時(shí)間： 2014-11-28
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ARM學(xué)習(xí)報(bào)告3_HaydenLuo BIOS總體結(jié)構(gòu)及部份源代碼分析
標(biāo)簽： HaydenLuo BIOS ARM 分
上傳時(shí)間： 2016-03-14
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理?；镜膬?nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
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研祥集團(tuán)pc104
標(biāo)簽： 104 pc
上傳時(shí)間： 2013-07-13
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宏研電子商行
標(biāo)簽： 電子 商
上傳時(shí)間： 2013-07-08
類比與介面裝置(AIPD)新產(chǎn)品研討會(huì)
標(biāo)簽： AIPD
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工程研單片機(jī) ppt版
標(biāo)簽： 工程 單片機(jī)
上傳時(shí)間： 2013-04-15
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