這是用 PIC 寫的利用感應(yīng)大門轉(zhuǎn)速偵測大門是否碰到障礙物
標(biāo)簽: PIC
上傳時間: 2013-12-08
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davincievm 6446 記憶體DDR撿測
標(biāo)簽: davincievm 6446 DDR
上傳時間: 2016-08-09
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davincievm 6446 音瀕檢測
標(biāo)簽: davincievm 6446
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IEEE802.15.4a信道模型-matlab實現(xiàn),超寬帶研究者的必備代碼~
標(biāo)簽: matlab IEEE 802 15
上傳時間: 2016-08-10
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直擴超寬帶的simulink仿真程序,絕對原創(chuàng)。
標(biāo)簽: simulink 超寬帶 仿真程序
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超低速的光纖一體發(fā)接收發(fā)送器,同于以前的光纖一體化接頭都只適用于2M以上的通訊,如需將232等低速信號用光纖傳輸出,需要加復(fù)雜的調(diào)制解調(diào)電路,網(wǎng)動光電新生產(chǎn)的這款光纖頭主要針對低速信號,可以傳送DC-500KPS的信號,極大地簡化了硬件設(shè)計.
標(biāo)簽: 低速 光纖 232 信號
上傳時間: 2016-08-11
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波達方向(DOA)估計的基本問題就是確定同時處在空間某一區(qū)域內(nèi)多個感興趣的信號的空間位置(即多個信號到達陣列參考陣元的方向角)。最早的也是最經(jīng)典的超分辨DOA估計方法是著名的MUSIC方法.本研究報告給出改進music的實現(xiàn)步驟
標(biāo)簽: DOA MUSIC 信號 波達
上傳時間: 2016-08-13
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標(biāo)簽: BANNER 韓國
上傳時間: 2016-08-16
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎(chǔ)上,結(jié)合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準最初是由JTAG這個組織提出,最終由IEEE批準並且標(biāo)準化,所以,IEEE 1149.1這個標(biāo)準一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
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FFT代原碼為C++需要測過才能用,所有檔案階完整
標(biāo)簽: FFT
上傳時間: 2016-08-17
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