超薄芯片Backend工藝分析及失效研究
本文主要超薄芯片的背面金屬化中的一些問題,闡述了兩種主要的背面金屬化工藝的建立,并解決了這兩個工藝中關鍵問題,使得工藝獲得好的成品率,提高了產品的可靠性,實現(xiàn)了大規(guī)模量產。流程(一)介紹了一種通過技術轉移在上海先進半導體制造有限公司(ASMC)開發(fā)的一種特殊工藝,工藝采用特殊背面去應力工藝,通過機械...
本文主要超薄芯片的背面金屬化中的一些問題,闡述了兩種主要的背面金屬化工藝的建立,并解決了這兩個工藝中關鍵問題,使得工藝獲得好的成品率,提高了產品的可靠性,實現(xiàn)了大規(guī)模量產。流程(一)介紹了一種通過技術轉移在上海先進半導體制造有限公司(ASMC)開發(fā)的一種特殊工藝,工藝采用特殊背面去應力工藝,通過機械...
摘要:IC智能卡使用過程中出現(xiàn)的密碼校驗失效、數(shù)據(jù)丟失、應用區(qū)不能讀寫等一系列失效和可靠性問題,嚴重影響了其在社會生活各領域的廣泛應用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引線鍵合斷裂、靜電放電損傷等失效模式和失效機理,并結合IC卡制造工藝和失效IC卡的分析實例,對引起這些失效的根本原因作了深入探討,就提...
產品型號:VK36N6I 產品品牌:VINKA/永嘉微電 封裝形式:SOP16/QFN16L 產品年份:新年份 聯(lián) 系 人:陳先生 Q Q: 361 888 5898 聯(lián)系手機:188 2466 2436(信) 概述 ...
產品型號:VKD233DR 產品品牌:VINKA/永嘉微電 封裝形式:DFN6L 產品年份:新年份 聯(lián) 系 人:陳銳鴻 Q Q:361 888 5898 聯(lián)系手機:188 2466 2436(信) 概 述 VKD233DR VinTouchTM 是...
來自日本東京,韓國首爾,美國德克薩斯普萊諾,2009年12月10日—MICROTUNE,INC.今日發(fā)布一款基于最新高集成硅技術的標準射頻-基帶芯片,此款芯片以極具吸引力的價格提供出色的電視接收性能。MT3141單芯片為全球電視制造商在下一代數(shù)字電視設計中引入高性能、低成本、超小型的...