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軟件開(kāi)發(fā)環(huán)境

在SamSung2440開發板上wince.net系統下

在SamSung2440開發板上wince.net系統下，利用標準的imgdecmp.dll接口，實現了jpeg.bmp.gif.png等圖片的顯示，在armv4i環境下絕對可用

標簽： SamSung wince 2440 net

上傳時間： 2017-06-08

上傳用戶：JasonC
PCB可測性設計布線規則之建議―從源頭改善可測率

P C B 可測性設計布線規則之建議― ― 從源頭改善可測率PCB 設計除需考慮功能性與安全性等要求外，亦需考慮可生產與可測試。這里提供可測性設計建議供設計布線工程師參考。1. 每一個銅箔電路支點，至少需要一個可測試點。如無對應的測試點，將可導致與之相關的開短路不可檢出，并且與之相連的零件會因無測試點而不可測。2. 雙面治具會增加制作成本，且上針板的測試針定位準確度差。所以Layout 時應通過Via Hole 盡可能將測試點放置于同一面。這樣就只要做單面治具即可。3. 測試選點優先級：A.測墊(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件腳(Component Lead) D.貫穿孔(Via Hole)(未Mask)。而對于零件腳，應以AI 零件腳及其它較細較短腳為優先，較粗或較長的引腳接觸性誤判多。4. PCB 厚度至少要62mil(1.35mm)，厚度少于此值之PCB 容易板彎變形，影響測點精準度，制作治具需特殊處理。5. 避免將測點置于SMT 之PAD 上，因SMT 零件會偏移，故不可靠，且易傷及零件。6. 避免使用過長零件腳(>170mil(4.3mm))或過大的孔(直徑>1.5mm)為測點。7. 對于電池(Battery)最好預留Jumper，在ICT 測試時能有效隔離電池的影響。8. 定位孔要求：(a) 定位孔(Tooling Hole)直徑最好為125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCB 須有2 個定位孔和一個防呆孔(也可說成定位孔,用以預防將PCB反放而導致機器壓破板)，且孔內不能沾錫。(c) 選擇以對角線，距離最遠之2 孔為定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不應設計成中心對稱,即PCB 旋轉180 度角后仍能放入PCB,這樣,作業員易于反放而致機器壓破板)9. 測試點要求：(e) 兩測點或測點與預鉆孔之中心距不得小于50mil(1.27mm)，否則有一測點無法植針。以大于100mil(2.54mm)為佳，其次是75mil(1.905mm)。(f) 測點應離其附近零件(位于同一面者)至少100mil，如為高于3mm 零件，則應至少間距120mil，方便治具制作。(g) 測點應平均分布于PCB 表面，避免局部密度過高，影響治具測試時測試針壓力平衡。(h) 測點直徑最好能不小于35mil(0.9mm)，如在上針板，則最好不小于40mil(1.00mm)，圓形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之測點需額外加工，以導正目標。(i) 測點的Pad 及Via 不應有防焊漆(Solder Mask)。(j) 測點應離板邊或折邊至少100mil。(k) 錫點被實踐證實是最好的測試探針接觸點。因為錫的氧化物較輕且容易刺穿。以錫點作測試點，因接觸不良導致誤判的機會極少且可延長探針使用壽命。錫點尤其以PCB 光板制作時的噴錫點最佳。PCB 裸銅測點，高溫后已氧化，且其硬度高，所以探針接觸電阻變化而致測試誤判率很高。如果裸銅測點在SMT 時加上錫膏再經回流焊固化為錫點，雖可大幅改善，但因助焊劑或吃錫不完全的緣故，仍會出現較多的接觸誤判。

標簽： PCB 可測性設計布線規則

上傳時間： 2014-01-14

上傳用戶：cylnpy
Visual Foxpro開發之＜＜學生管理系統＞＞

Visual Foxpro開發之＜＜學生管理系統＞＞，可做學習或學校教學參考使用

標簽： Visual Foxpro 管理系統

上傳時間： 2013-12-28

上傳用戶：源碼3
/*最大k乘積問題問題描述: 設I是一個n位十進制整數。如果將I劃分為k段

/*最大k乘積問題問題描述: 設I是一個n位十進制整數。如果將I劃分為k段，則可得到k個整數。這k個整數的乘積稱為I的一個k乘積。試設計一個算法，對于給定的I和k，求出I的最大k乘積（n<=10）。示例:輸入為： 4 3 結果:1234 */

標簽： 十進制分整數

上傳時間： 2013-12-14

上傳用戶：caixiaoxu26
(1)輸入E條弧<j,k>,建立AOE-網的存儲結構 (2)從源點v出發,令ve[0]=0,按拓撲排序求其余各項頂點的最早發生時間ve[i](1<=i<=n-1).如果得到的拓

(1)輸入E條弧<j,k>,建立AOE-網的存儲結構 (2)從源點v出發,令ve[0]=0,按拓撲排序求其余各項頂點的最早發生時間ve[i](1<=i<=n-1).如果得到的拓樸有序序列中頂點個數小于網中頂點數n,則說明網中存在環,不能求關鍵路徑,算法終止否則執行步驟(3)(3)從匯點v出發,令vl[n-1]=ve[n-1],按逆拓樸排序求其余各頂點的最遲發生時間vl[i](n-2>=i>=2). (4)根據各頂點的ve和vl值,求每條弧s的最早發生時間e(s)和最遲開始時間l(s).若某條弧滿足條件e(s)=l(s),則為關鍵活動.

標簽： lt ve AOE gt

上傳時間： 2014-11-28

上傳用戶：fredguo
Programming Windows程式開發設計指南

Programming Windows程式開發設計指南

標簽： Programming Windows 程式

上傳時間： 2015-03-18

上傳用戶：agent
漫談Familiar + QPE在iPAQ的安裝與使用Windows CE, Palm O.S 兩者都提供一個完善的開發平臺

漫談Familiar + QPE在iPAQ的安裝與使用Windows CE, Palm O.S 兩者都提供一個完善的開發平臺

標簽： O.S Familiar Windows Palm

上傳時間： 2013-12-26

上傳用戶：a673761058
Parzen 窗和 K近鄰法進行概率密度估計還帶一個示波器控件.

Parzen 窗和 K近鄰法進行概率密度估計還帶一個示波器控件.

標簽： Parzen 概率密度控件示波器

上傳時間： 2013-12-17

上傳用戶：13517191407
LCD OSD 程序用於8051 開發lcd

LCD OSD 程序用於8051 開發lcd

標簽： 8051 LCD OSD lcd

上傳時間： 2013-12-30

上傳用戶：yepeng139
這是s3c4510原廠開發版的cdrom內容

這是s3c4510原廠開發版的cdrom內容，但是因為原廠停產，所以已經下載不到，得來不易，是arm初學者必備文檔。

標簽： s3c4510 cdrom

上傳時間： 2014-02-12

上傳用戶：偷心的海盜