delphi登陸窗體的制作,就我知道的,可以有兩種方法,一種是在工程文件中實現(xiàn)登陸窗體的動態(tài)調(diào)用,另一種就是在主窗體的OnCreate事件中動態(tài)創(chuàng)建登陸窗體,兩種方法都需要將主窗體設(shè)置為Auto-create form,將登陸窗體設(shè)
標(biāo)簽: OnCreate Auto-cr delphi 工程
上傳時間: 2016-08-04
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股市分析K線,測試版本,可以研究修正,勿用於商業(yè)販賣
標(biāo)簽: 分 版本 正 商
上傳時間: 2014-01-04
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MicroShip IIC 使用的範(fàn)例程式 , 測試成功
標(biāo)簽: MicroShip IIC 程式
上傳時間: 2013-12-17
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MicroShip CAN Bus 範(fàn)例 , 測試成功 , 新版的喔
標(biāo)簽: MicroShip CAN Bus
上傳時間: 2014-01-27
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這是用 PIC 寫的利用感應(yīng)大門轉(zhuǎn)速偵測大門是否碰到障礙物
標(biāo)簽: PIC
上傳時間: 2013-12-08
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基於 c51/8051 的 nand Flash Memory HY27US08561A 範(fàn)例程序 及驅(qū)動程序, 包含詳細(xì)文檔資料 (Datasheet)
標(biāo)簽: Datasheet 08561A Memory 08561
上傳時間: 2016-08-09
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davincievm 6446 記憶體DDR撿測
標(biāo)簽: davincievm 6446 DDR
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資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動長度編碼壓縮及解壓縮(Run Length Encoding) 整數(shù)採用固定長度一個位元組表示法 對於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代
標(biāo)簽: Encoding Length Run 表示法
上傳時間: 2016-08-15
上傳用戶:GavinNeko
資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動長度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數(shù)採用固定長度一個位元組表示法~ 對於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代~
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎(chǔ)上,結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出,最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化,所以,IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間: 2016-08-16
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