delphi登陸窗體的制作,就我知道的,可以有兩種方法,一種是在工程文件中實現登陸窗體的動態調用,另一種就是在主窗體的OnCreate事件中動態創建登陸窗體,兩種方法都需要將主窗體設置為Auto-create form,將登陸窗體設
標簽： OnCreate Auto-cr delphi 工程
上傳時間： 2016-08-04
上傳用戶：gtzj
股市分析K線,測試版本,可以研究修正,勿用於商業販賣
標簽： 分 版本 正 商
上傳時間： 2014-01-04
上傳用戶：edisonfather
MicroShip IIC 使用的範例程式 , 測試成功
標簽： MicroShip IIC 程式
上傳時間： 2013-12-17
上傳用戶：zxc23456789
MicroShip CAN Bus 範例 , 測試成功 , 新版的喔
標簽： MicroShip CAN Bus
上傳時間： 2014-01-27
上傳用戶：tonyshao
這是用 PIC 寫的利用感應大門轉速偵測大門是否碰到障礙物
標簽： PIC
上傳時間： 2013-12-08
上傳用戶：aig85
基於 c51/8051 的 nand Flash Memory HY27US08561A 範例程序 及驅動程序, 包含詳細文檔資料 (Datasheet)
標簽： Datasheet 08561A Memory 08561
上傳時間： 2016-08-09
上傳用戶：yulg
davincievm 6446 記憶體DDR撿測
標簽： davincievm 6446 DDR
上傳用戶：xlcky
資料壓縮技術與應用-變動長度編碼壓縮及解壓縮(Run Length Encoding) 整數採用固定長度一個位元組表示法 對於只出現一次的位元組S亦用iS取代
標簽： Encoding Length Run 表示法
上傳時間： 2016-08-15
上傳用戶：GavinNeko
資料壓縮技術與應用-變動長度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數採用固定長度一個位元組表示法~ 對於只出現一次的位元組S亦用iS取代~
上傳用戶：asdfasdfd
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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