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電路分析基礎(chǔ)

  • K51 浮點(diǎn)數(shù)除法

    K51 浮點(diǎn)數(shù)除法,用匯編編寫,基礎(chǔ)的東西

    標(biāo)簽: K51 除法

    上傳時(shí)間: 2013-12-16

    上傳用戶:xauthu

  • 《實(shí)戰(zhàn)C++ — 八個(gè)別具特色的實(shí)作經(jīng)驗(yàn)》與目前市面㆖ 眾多C++ 書籍的最大不同

    《實(shí)戰(zhàn)C++ — 八個(gè)別具特色的實(shí)作經(jīng)驗(yàn)》與目前市面㆖ 眾多C++ 書籍的最大不同,在於 本書既非基礎(chǔ)觀念之教㈻ 書籍,亦非開發(fā)工具之使用手冊,而是以「㆒ 章㆒ 專案」的方式, 從實(shí)際應(yīng)用面引領(lǐng)讀者領(lǐng)略C++。 本書是《The Art of C++》的㆗ 文譯本。原作者Herbert Schildt 是㆒ 位㈻ ㈲ 專精、著作等身的 IT 技術(shù)作家,其作品普遍獲得良好評價(jià)。

    標(biāo)簽: 12694

    上傳時(shí)間: 2016-02-08

    上傳用戶:894898248

  • altera Quartus II 減法器使用 配合LED

    altera Quartus II 減法器使用 配合LED,可自動(dòng)與手動(dòng)按鈕控製。 (含電路)

    標(biāo)簽: Quartus altera LED II

    上傳時(shí)間: 2013-12-13

    上傳用戶:王楚楚

  • altera Quartus II FSM使用 可設(shè)定時(shí)間波形

    altera Quartus II FSM使用 可設(shè)定時(shí)間波形,手動(dòng)調(diào)整波形頻率。 (含電路)

    標(biāo)簽: Quartus altera FSM II

    上傳時(shí)間: 2016-02-13

    上傳用戶:kbnswdifs

  • altera Quartus II TLC晶片控制 可控制暫存器

    altera Quartus II TLC晶片控制 可控制暫存器,手動(dòng)調(diào)整內(nèi)碼。 (含電路)

    標(biāo)簽: Quartus altera TLC 控制

    上傳時(shí)間: 2016-02-13

    上傳用戶:Zxcvbnm

  • altera Quartus II modelSim 自動(dòng)模擬搭配

    altera Quartus II modelSim 自動(dòng)模擬搭配,內(nèi)有範(fàn)例。 (含電路)

    標(biāo)簽: modelSim Quartus altera II

    上傳時(shí)間: 2016-02-13

    上傳用戶:lz4v4

  • 關(guān)於宏晶STC89C51單片機(jī)IC芯片的詳細(xì)資料

    關(guān)於宏晶STC89C51單片機(jī)IC芯片的詳細(xì)資料,內(nèi)有很多簡單電路。

    標(biāo)簽: STC 89C C51 89

    上傳時(shí)間: 2013-12-02

    上傳用戶:佳期如夢

  • OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN

    OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎(chǔ)上,結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出,最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化,所以,IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。

    標(biāo)簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM

    上傳時(shí)間: 2016-08-16

    上傳用戶:sssl

  • 這次把真正的把源程序公開了

    這次把真正的把源程序公開了,而且還有詳細(xì)的原理教程,希望大家?guī)兔Π阉龅母茫С值钠骷唷? 這個(gè)下載線電路是我做過的中最穩(wěn)定的,成功率很高。你也可以直接使用現(xiàn)有的下載線或者Atmel的原版下 載線。Easy 51Pro串行編程器也支持AT89C2051了。《Easy 51Pro的製作及使用說明》中有詳細(xì)介紹。 有何問題或者發(fā)現(xiàn)了BUG請?jiān)谶@裡給我留言: http://enkj.com/gbook/guestbook.asp?user=digiboy

    標(biāo)簽: 源程序

    上傳時(shí)間: 2013-12-12

    上傳用戶:xieguodong1234

  • 一篇來自臺(tái)灣中華大學(xué)的論文--《無線射頻系統(tǒng)標(biāo)簽晶片設(shè)計(jì)》

    一篇來自臺(tái)灣中華大學(xué)的論文--《無線射頻系統(tǒng)標(biāo)簽晶片設(shè)計(jì)》,彩色版。其摘要為:本論文討論使用於無線射頻辨識系統(tǒng)(RFID)之標(biāo)籤晶片系統(tǒng)的電路設(shè)計(jì)和晶片製作,初步設(shè)計(jì)標(biāo)籤晶片的基本功能,設(shè)計(jì)流程包含數(shù)位軟體及功能的模擬、基本邏輯閘及類比電路的設(shè)計(jì)與晶片電路的佈局考量。 論文的第一部份是序論、射頻辨識系統(tǒng)的規(guī)劃、辨識系統(tǒng)的規(guī)格介紹及制定,而第二部份是標(biāo)籤晶片設(shè)計(jì)、晶片量測、結(jié)論。 電路的初步設(shè)計(jì)功能為:使用電容作頻率緩衝的Schmitt trigger Clock、CRC-16的錯(cuò)誤偵測編碼、Manchester編碼及使用單一電路做到整流、振盪及調(diào)變的功能,最後完成晶片的實(shí)作。

    標(biāo)簽: 大學(xué) 論文 無線射頻

    上傳時(shí)間: 2016-08-27

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