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針對(duì)一級(jí)非線性倒力擺的模糊監(jiān)督控制應(yīng)用在系統(tǒng)含有不確定性
標(biāo)簽： 模糊 控制應(yīng)用 系統(tǒng)
上傳時(shí)間： 2013-12-23
上傳用戶：yt1993410
隨著紅外焦平面陣列的不斷發(fā)展，紅外技術(shù)的應(yīng)用范圍將越來(lái)越廣泛。焦平面面陣探測(cè)器的一個(gè)最大的缺點(diǎn)是固有的非均勻性。本文首先介紹了紅外熱成像技術(shù)的發(fā)展，討論了紅外焦平面陣列的基本原理和工作方式，分析了紅外非均勻性產(chǎn)生的原因。其次研究了幾種主要的非均勻校正方法以及焦平面陣列元的盲元檢測(cè)和補(bǔ)償?shù)姆椒ǎ瑢?duì)紅外圖像處理技術(shù)做了研究。 本文研究的探測(cè)器是法國(guó)ULIS公司的320×240非制冷微測(cè)輻射熱計(jì)焦平面陣列探測(cè)器。主要研究對(duì)其輸出信號(hào)進(jìn)行非均勻性校正和圖像增強(qiáng)。最后針對(duì)這一課題編寫了基于FPGA的兩點(diǎn)校正、兩點(diǎn)加一點(diǎn)校正、全局非均勻校正算法和紅外圖像直方圖均衡化增強(qiáng)程序，并對(duì)三種校正方法做了比較。
上傳時(shí)間： 2013-08-03
上傳用戶：qq442012091
文中簡(jiǎn)單闡述了紅外輻射機(jī)理，論述了紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r。紅外成像系統(tǒng)，尤其是紅外焦平面陣列，由于探測(cè)器材料和制造工藝的原因，各像素點(diǎn)之間的靈敏度存在差別，甚至存在一些缺陷點(diǎn)，各個(gè)探測(cè)單元特征參數(shù)不完全一致，因而存在著較大的非均勻性，降低了圖像的分辨率，影響了紅外成像系統(tǒng)的有效作用距離。實(shí)時(shí)非均勻性校正是提高和改善紅外圖像質(zhì)量的一項(xiàng)重要技術(shù)。 論文建立了描述其非均勻性的數(shù)學(xué)模型，分析了紅外焦平面陣列非均勻性產(chǎn)生的原因及特點(diǎn)，討論了幾種常用的非均勻性校正的方法，指出了其各自的優(yōu)缺點(diǎn)和適應(yīng)場(chǎng)合。 根據(jù)紅外探測(cè)器光譜響應(yīng)的特點(diǎn)和基于參考源的兩點(diǎn)溫度非均勻性校正理論，采用FPGA+DSP實(shí)現(xiàn)紅外成像系統(tǒng)實(shí)時(shí)非均勻性兩點(diǎn)校正，設(shè)計(jì)完成了相應(yīng)的紅外焦平面陣列非均勻性校正硬件電路。對(duì)該系統(tǒng)中各個(gè)模塊的功能及電路實(shí)現(xiàn)進(jìn)行了詳細(xì)的描述，并給出了相應(yīng)的結(jié)構(gòu)框圖。同時(shí)給出了該圖像處理器的部分軟件流程圖。該方法動(dòng)態(tài)范圍大而且處理速度快，適用于紅外成像系統(tǒng)實(shí)時(shí)的圖像處理場(chǎng)合。實(shí)踐表明，該方案取得了較為滿意的結(jié)果。
上傳時(shí)間： 2013-04-24
上傳用戶：shinnsiaolin
Verilog編碼與綜合中的非阻塞性賦值
上傳時(shí)間： 2013-12-23
上傳用戶：杜瑩12345
一個(gè)開發(fā)組件,非規(guī)則性的窗體開發(fā),很好用~!
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2015-04-14
上傳用戶：evil
雙線性內(nèi)插法(bi-linear interpolation) 此方法以(x,y)的四個(gè)鄰近點(diǎn)來(lái)求得最近似的灰度
標(biāo)簽： interpolation bi-linear 61548 灰度
上傳時(shí)間： 2013-12-28
上傳用戶：三人用菜
雙線性內(nèi)插法(bi-linear interpolation) 此方法以(x,y)的四個(gè)鄰近點(diǎn)來(lái)求得最近似的灰度
標(biāo)簽： interpolation bi-linear 61548 灰度
上傳時(shí)間： 2014-12-21
上傳用戶：佳期如夢(mèng)
一個(gè)線性規(guī)劃的程式 可以解出需要解的方程式的最佳解 說(shuō)明檔在壓縮檔中 manual is in the rar file
上傳時(shí)間： 2014-01-15
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單極性非零性 源代碼說(shuō)明
上傳時(shí)間： 2014-01-21
上傳用戶：彭玖華
時(shí)序時(shí)序非平穩(wěn)性ADF檢驗(yàn)法的理論與應(yīng)用
標(biāo)簽： 時(shí)序時(shí)序非平穩(wěn)性ADF檢驗(yàn)法的理論與應(yīng)用
上傳時(shí)間： 2016-07-07
上傳用戶：GYJ11
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