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拉格朗日插值 用拉格朗日插值來計算函數值 使用說明： 一般的使用過程： 1、修改輸入數據 input3.txt 2、編輯源文件 55.c 55.c為主函數，調用了子函數lag.c。 3、編譯程序 55.bat 4、運行 55.exe
標簽： input 55 txt 插值
上傳時間： 2014-01-11
上傳用戶：pinksun9
匯編語言程序上機過程DEBUG程序的使用 1.編制程序計算Z=X+Y，其中X、Y、Z均為字型無符號數。2．將數據區中的100個‘A’字符組成的字符串傳送到附加段中。
標簽： DEBUG 程序 匯編語言程序 上機過程
上傳時間： 2013-12-15
上傳用戶：yuzsu
這是關于拉格朗日插值的C程序 用于計算在某點的函數值
標簽： 插值 C程序 函數值 計算
上傳時間： 2013-12-09
上傳用戶：Avoid98
資料壓縮技術與應用-變動長度編碼壓縮及解壓縮(Run Length Encoding) 整數採用固定長度一個位元組表示法 對於只出現一次的位元組S亦用iS取代
標簽： Encoding Length Run 表示法
上傳時間： 2016-08-15
上傳用戶：GavinNeko
資料壓縮技術與應用-變動長度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數採用固定長度一個位元組表示法~ 對於只出現一次的位元組S亦用iS取代~
上傳用戶：asdfasdfd
4階變步長龍格-庫塔法解dy=fun(x,y)型方程,根據算法編寫。
標簽： fun dy 方程 算法
上傳時間： 2014-11-26
上傳用戶：zhangzhenyu
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
FFT代原碼為C++需要測過才能用，所有檔案階完整
標簽： FFT
上傳時間： 2016-08-17
上傳用戶：zhanditian
在做2維度樣本分類的過程中,若我們能事先畫出訓練樣本在空間中的分散情形,這將有助於我們在設定SVM分類器的參數C的取值範圍. 例如:若畫出的訓練樣本的散佈較分散,我們可以得知此時採用的參數值可以取在較大的範圍. 所以本程式也是讓想要畫出資料樣本在平面的散佈情形者之一各可行工具.
標簽： SVM 分 分散
上傳時間： 2016-08-19
上傳用戶：sy_jiadeyi
設X[0:n-1]和Y[0:n-1] 為2 個數組,每個數組中含有n 個已排好序的數。試設計一個O(log n) 時間的算法,找出X 和Y 的2n 個數的中位數。
標簽： log 數組 算法
上傳時間： 2016-08-20
上傳用戶：zhoujunzhen
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