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DPS2812的開發程序,內有多個測試的程序可以讓你明白板子基本的運作
標簽： 2812 DPS 程序 白板
上傳時間： 2016-04-10
上傳用戶：330402686
系統硬件測試,主板的型號，顯卡類形等硬件信息
標簽： 系統 硬件 主板
上傳時間： 2013-12-18
上傳用戶：wl9454
產生頻率選擇性衰落的雷利通道，參數由天線結構、OFDM系統的結構與功率延時結構來決定。
標簽：
上傳時間： 2014-12-20
上傳用戶：lizhizheng88
在cypress單晶片上實驗EEPROM 的測試程式
標簽： cypress EEPROM 晶片 程式
上傳時間： 2014-01-09
上傳用戶：D&L37
用pascal寫的jpeg codec, 測試過的
標簽： pascal codec jpeg
上傳時間： 2016-07-11
除頻code,只要修改數字並接上時脈,即可得到所要的頻率
標簽： code 修改
上傳時間： 2013-12-13
上傳用戶：zmy123
股市分析K線,測試版本,可以研究修正,勿用於商業販賣
標簽： 分 版本 正 商
上傳時間： 2014-01-04
上傳用戶：edisonfather
MicroShip IIC 使用的範例程式 , 測試成功
標簽： MicroShip IIC 程式
上傳時間： 2013-12-17
上傳用戶：zxc23456789
MicroShip CAN Bus 範例 , 測試成功 , 新版的喔
標簽： MicroShip CAN Bus
上傳時間： 2014-01-27
上傳用戶：tonyshao
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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