<nav id="wuuc4"></nav> 第一部分 信號(hào)完整性知識(shí)基礎(chǔ).................................................................................5第一章 高速數(shù)字電路概述.....................................................................................51.1 何為高速電路...............................................................................................51.2 高速帶來(lái)的問(wèn)題及設(shè)計(jì)流程剖析...............................................................61.3 相關(guān)的一些基本概念...................................................................................8第二章 傳輸線理論...............................................................................................122.1 分布式系統(tǒng)和集總電路.............................................................................122.2 傳輸線的RLCG 模型和電報(bào)方程...............................................................132.3 傳輸線的特征阻抗.....................................................................................142.3.1 特性阻抗的本質(zhì).................................................................................142.3.2 特征阻抗相關(guān)計(jì)算.............................................................................152.3.3 特性阻抗對(duì)信號(hào)完整性的影響.........................................................172.4 傳輸線電報(bào)方程及推導(dǎo).............................................................................182.5 趨膚效應(yīng)和集束效應(yīng).................................................................................232.6 信號(hào)的反射.................................................................................................252.6.1 反射機(jī)理和電報(bào)方程.........................................................................252.6.2 反射導(dǎo)致信號(hào)的失真問(wèn)題.................................................................302.6.2.1 過(guò)沖和下沖.....................................................................................302.6.2.2 振蕩：.............................................................................................312.6.3 反射的抑制和匹配.............................................................................342.6.3.1 串行匹配.........................................................................................352.6.3.1 并行匹配.........................................................................................362.6.3.3 差分線的匹配.................................................................................392.6.3.4 多負(fù)載的匹配.................................................................................41第三章 串?dāng)_的分析...............................................................................................423.1 串?dāng)_的基本概念.........................................................................................423.2 前向串?dāng)_和后向串?dāng)_.................................................................................433.3 后向串?dāng)_的反射.........................................................................................463.4 后向串?dāng)_的飽和.........................................................................................463.5 共模和差模電流對(duì)串?dāng)_的影響.................................................................483.6 連接器的串?dāng)_問(wèn)題.....................................................................................513.7 串?dāng)_的具體計(jì)算.........................................................................................543.8 避免串?dāng)_的措施.........................................................................................57第四章 EMI 抑制....................................................................................................604.1 EMI/EMC 的基本概念..................................................................................604.2 EMI 的產(chǎn)生..................................................................................................614.2.1 電壓瞬變.............................................................................................614.2.2 信號(hào)的回流.........................................................................................624.2.3 共模和差摸EMI ..................................................................................634.3 EMI 的控制..................................................................................................654.3.1 屏蔽.....................................................................................................654.3.1.1 電場(chǎng)屏蔽.........................................................................................654.3.1.2 磁場(chǎng)屏蔽.........................................................................................674.3.1.3 電磁場(chǎng)屏蔽.....................................................................................674.3.1.4 電磁屏蔽體和屏蔽效率.................................................................684.3.2 濾波.....................................................................................................714.3.2.1 去耦電容.........................................................................................714.3.2.3 磁性元件.........................................................................................734.3.3 接地.....................................................................................................744.4 PCB 設(shè)計(jì)中的EMI.......................................................................................754.4.1 傳輸線RLC 參數(shù)和EMI ........................................................................764.4.2 疊層設(shè)計(jì)抑制EMI ..............................................................................774.4.3 電容和接地過(guò)孔對(duì)回流的作用.........................................................784.4.4 布局和走線規(guī)則.................................................................................79第五章 電源完整性理論基礎(chǔ)...............................................................................825.1 電源噪聲的起因及危害.............................................................................825.2 電源阻抗設(shè)計(jì).............................................................................................855.3 同步開(kāi)關(guān)噪聲分析.....................................................................................875.3.1 芯片內(nèi)部開(kāi)關(guān)噪聲.............................................................................885.3.2 芯片外部開(kāi)關(guān)噪聲.............................................................................895.3.3 等效電感衡量SSN ..............................................................................905.4 旁路電容的特性和應(yīng)用.............................................................................925.4.1 電容的頻率特性.................................................................................935.4.3 電容的介質(zhì)和封裝影響.....................................................................955.4.3 電容并聯(lián)特性及反諧振.....................................................................955.4.4 如何選擇電容.....................................................................................975.4.5 電容的擺放及Layout ........................................................................99第六章 系統(tǒng)時(shí)序.................................................................................................1006.1 普通時(shí)序系統(tǒng)...........................................................................................1006.1.1 時(shí)序參數(shù)的確定...............................................................................1016.1.2 時(shí)序約束條件...................................................................................1063.2 高速設(shè)計(jì)的問(wèn)題.......................................................................................2093.3 SPECCTRAQuest SI Expert 的組件.......................................................2103.3.1 SPECCTRAQuest Model Integrity .................................................2103.3.2 SPECCTRAQuest Floorplanner/Editor .........................................2153.3.3 Constraint Manager .......................................................................2163.3.4 SigXplorer Expert Topology Development Environment .......2233.3.5 SigNoise 仿真子系統(tǒng)......................................................................2253.3.6 EMControl .........................................................................................2303.3.7 SPECCTRA Expert 自動(dòng)布線器.......................................................2303.4 高速設(shè)計(jì)的大致流程...............................................................................2303.4.1 拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的探索...............................................................................2313.4.2 空間解決方案的探索.......................................................................2313.4.3 使用拓?fù)淠０弪?qū)動(dòng)設(shè)計(jì)...................................................................2313.4.4 時(shí)序驅(qū)動(dòng)布局...................................................................................2323.4.5 以約束條件驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì).......................................................................2323.4.6 設(shè)計(jì)后分析.......................................................................................233第四章 SPECCTRAQUEST SIGNAL EXPLORER 的進(jìn)階運(yùn)用..........................................2344.1 SPECCTRAQuest Signal Explorer 的功能包括：................................2344.2 圖形化的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)探索...........................................................................2344.3 全面的信號(hào)完整性(Signal Integrity)分析.......................................2344.4 完全兼容 IBIS 模型...............................................................................2344.5 PCB 設(shè)計(jì)前和設(shè)計(jì)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)提取.......................................................2354.6 仿真設(shè)置顧問(wèn)...........................................................................................2354.7 改變?cè)O(shè)計(jì)的管理.......................................................................................2354.8 關(guān)鍵技術(shù)特點(diǎn)...........................................................................................2364.8.1 拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)探索...................................................................................2364.8.2 SigWave 波形顯示器........................................................................2364.8.3 集成化的在線分析(Integration and In-process Analysis) .236第五章 部分特殊的運(yùn)用...............................................................................2375.1 Script 指令的使用..................................................................................2375.2 差分信號(hào)的仿真.......................................................................................2435.3 眼圖模式的使用.......................................................................................249第四部分：HYPERLYNX 仿真工具使用指南............................................................251第一章 使用LINESIM 進(jìn)行前仿真.......................................................................2511.1 用LineSim 進(jìn)行仿真工作的基本方法...................................................2511.2 處理信號(hào)完整性原理圖的具體問(wèn)題.......................................................2591.3 在LineSim 中如何對(duì)傳輸線進(jìn)行設(shè)置...................................................2601.4 在LineSim 中模擬IC 元件.....................................................................2631.5 在LineSim 中進(jìn)行串?dāng)_仿真...................................................................268第二章 使用BOARDSIM 進(jìn)行后仿真......................................................................2732.1 用BOARDSIM 進(jìn)行后仿真工作的基本方法...................................................2732.2 BoardSim 的進(jìn)一步介紹..........................................................................2922.3 BoardSim 中的串?dāng)_仿真..........................................................................309
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電路板布局………………………………………42.1 電源和地…………………………………………………………………….42.1.1 感抗……………………………………………………………………42.1.2 兩層板和四層板………………………………………………………42.1.3 單層板和二層板設(shè)計(jì)中的微處理器地……………………………….42.1.4 信號(hào)返回地……………………………………………………………52.1.5 模擬數(shù)字和高壓…………………………………………………….52.1.6 模擬電源引腳和模擬參考電壓……………………………………….52.1.7 四層板中電源平面因該怎么做和不應(yīng)該怎么做…………………….52.2 兩層板中的電源分配……………………………………………………….62.2.1 單點(diǎn)和多點(diǎn)分配……………………………………………………….62.2.2 星型分配………………………………………………………………62.2.3 格柵化地……………………………………………………………….72.2.4 旁路和鐵氧體磁珠……………………………………………………92.2.5 使噪聲靠近磁珠……………………………………………………..102.3 電路板分區(qū)………………………………112.4 信號(hào)線……………………………………………………………………...122.4.1 容性和感性串?dāng)_……………………………………………………...122.4.2 天線因素和長(zhǎng)度規(guī)則………………………………………………...122.4.3 串聯(lián)終端傳輸線…………………………………………………..132.4.4 輸入阻抗匹配………………………………………………………...132.5 電纜和接插件……………………………………………………………...132.5.1 差模和共模噪聲……………………………………………………...142.5.2 串?dāng)_模型……………………………………………………………..142.5.3 返回線路數(shù)目……………………………………..142.5.4 對(duì)板外信號(hào)I/O的建議………………………………………………142.5.5 隔離噪聲和靜電放電ESD ……………………………………….142.6 其他布局問(wèn)題……………………………………………………………...142.6.1 汽車(chē)和用戶應(yīng)用帶鍵盤(pán)和顯示器的前端面板印刷電路板………...152.6.2 易感性布局…………………………………………………………...15
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減小電磁干擾的印刷電路板設(shè)計(jì)原則 內(nèi) 容 摘要……1 1 背景…1 1.1 射頻源.1 1.2 表面貼裝芯片和通孔元器件.1 1.3 靜態(tài)引腳活動(dòng)引腳和輸入.1 1.4 基本回路……..2 1.4.1 回路和偶極子的對(duì)稱(chēng)性3 1.5 差模和共模…..3 2 電路板布局…4 2.1 電源和地…….4 2.1.1 感抗……4 2.1.2 兩層板和四層板4 2.1.3 單層板和二層板設(shè)計(jì)中的微處理器地.4 2.1.4 信號(hào)返回地……5 2.1.5 模擬數(shù)字和高壓…….5 2.1.6 模擬電源引腳和模擬參考電壓.5 2.1.7 四層板中電源平面因該怎么做和不應(yīng)該怎么做…….5 2.2 兩層板中的電源分配.6 2.2.1 單點(diǎn)和多點(diǎn)分配.6 2.2.2 星型分配6 2.2.3 格柵化地.7 2.2.4 旁路和鐵氧體磁珠……9 2.2.5 使噪聲靠近磁珠……..10 2.3 電路板分區(qū)…11 2.4 信號(hào)線……...12 2.4.1 容性和感性串?dāng)_……...12 2.4.2 天線因素和長(zhǎng)度規(guī)則...12 2.4.3 串聯(lián)終端傳輸線…..13 2.4.4 輸入阻抗匹配...13 2.5 電纜和接插件……...13 2.5.1 差模和共模噪聲……...14 2.5.2 串?dāng)_模型……..14 2.5.3 返回線路數(shù)目..14 2.5.4 對(duì)板外信號(hào)I/O的建議14 2.5.5 隔離噪聲和靜電放電ESD .14 2.6 其他布局問(wèn)題……...14 2.6.1 汽車(chē)和用戶應(yīng)用帶鍵盤(pán)和顯示器的前端面板印刷電路板...15 2.6.2 易感性布局…...15 3 屏蔽..16 3.1 工作原理…...16 3.2 屏蔽接地…...16 3.3 電纜和屏蔽旁路………………..16 4 總結(jié)…………………………………………17 5 參考文獻(xiàn)………………………17
標(biāo)簽： 印刷電路板 設(shè)計(jì)原則
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已通過(guò)CE認(rèn)證。（為什么要選擇經(jīng)過(guò)CE認(rèn)證的編程器？） 程速度無(wú)與倫比,逼近芯片理論極限。 基本配置48腳流行驅(qū)動(dòng)電路。所選購(gòu)的適配器都是通用的（插在DIP48鎖緊座上），即支持同封裝所有類(lèi)型器件，48腳及以下DIP器件無(wú)需適配器直接支持。通用適配器保證快速新器件支持。I/O電平由DAC控制，直接支持低達(dá)1.5V的低壓器件。 更先進(jìn)的波形驅(qū)動(dòng)電路極大抑制工作噪聲,配合IC廠家認(rèn)證的算法,無(wú)論是低電壓器件、二手器件還是低品質(zhì)器件均能保證極高的編程良品率。編程結(jié)果可選擇高低雙電壓校驗(yàn),保證結(jié)果持久穩(wěn)固。 支持FLASH、EPROM、EEPROM、MCU、PLD等器件。支持新器件僅需升級(jí)軟件（免費(fèi)）。可測(cè)試SRAM、標(biāo)準(zhǔn)TTL/COMS電路，并能自動(dòng)判斷型號(hào)。 自動(dòng)檢測(cè)芯片錯(cuò)插和管腳接觸不良,避免損壞器件。 完善的過(guò)流保護(hù)功能,避免損壞編程器。 邏輯測(cè)試功能。可測(cè)試和自動(dòng)識(shí)別標(biāo)準(zhǔn)TTL/CMOS邏輯電路和用戶自定義測(cè)試向量的非標(biāo)準(zhǔn)邏輯電路。 豐富的軟件功能簡(jiǎn)化操作，提高效率，避免出錯(cuò)，對(duì)用戶關(guān)懷備至。工程（Project）將用戶關(guān)于對(duì)象器件的各種操作、設(shè)置，包括器件型號(hào)設(shè)定、燒寫(xiě)文件的調(diào)入、配置位的設(shè)定、批處理命令等保存在工程文件中，每次運(yùn)行時(shí)一步進(jìn)入寫(xiě)片操作。器件型號(hào)選擇和文件載入均有歷史（History）記錄，方便再次選擇。批處理（Auto）命令允許用戶將擦除、查空、編程、校驗(yàn)、加密等常用命令序列隨心所欲地組織成一步完成的單一命令。量產(chǎn)模式下一旦芯片正確插入CPU即自動(dòng)啟動(dòng)批處理命令，無(wú)須人工按鍵。自動(dòng)序列號(hào)功能按用戶要求自動(dòng)生成并寫(xiě)入序列號(hào)。借助于開(kāi)放的API用戶可以在線動(dòng)態(tài)修改數(shù)據(jù)BUFFER，使每片芯片內(nèi)容均不同。器件型號(hào)選錯(cuò)，軟件按照實(shí)際讀出的ID提示相近的候選型號(hào)。自動(dòng)識(shí)別文件格式, 自動(dòng)提示文件地址溢出。 軟件支持WINDOWS98/ME/NT/2000/XP操作系統(tǒng)（中英文）。 器件型號(hào) 編程(秒) 校驗(yàn)(秒) P+V (s) Type 28F320W18 9 4.5 13.5 32Mb FLASH 28F640W30 18 9 27 64Mb FLASH AM29DL640E 38.3 10.6 48.9 64Mb FLASH MB84VD21182DA 9.6 2.9 12.5 16Mb FLASH MB84VD23280FA 38.3 10.6 48.9 64Mb FLASH LRS1381 13.3 4.6 19.9 32Mb FLASH M36W432TG 11.8 4.6 16.4 32Mb FLASH MBM29DL323TE 17.5 5.5 23.3 32Mb FLASH AT89C55WD 2.1 1 3.1 20KB MCU P89C51RD2B 4.6 0.9 5.5 64KB MCU
標(biāo)簽： superpro 280 驅(qū)動(dòng) 編程器軟件
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能運(yùn)算的函數(shù)： sin,cos,tg,ctg,e^,pow(x,y),cosh,sinh,tgh,log10,ln,sqrt,arcsin,arccos, 運(yùn)算方式： +,-,*,/,絕對(duì)值（“[ ]”）,^,!, 輸入規(guī)則： 用鍵盤(pán)或按鈕都可，輸入完按回車(chē)運(yùn)算，(光標(biāo)要在最后) sin(21-32)/(12-43) 4(323-4343) 4*(323-4343) e^2-sin3-3^4,(不要輸入pow(3,4)) //有無(wú)*都可 2*3^4是（2*3）^4 而不是2*(3^4) 也就是要用x^y就要一定要（x^y）加上一個(gè)括號(hào) [3-4]是求3-4的絕對(duì)值不是中括號(hào)
標(biāo)簽： arcsin arccos cosh sinh
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本程序用資源分配網(wǎng)(Resource_Allocation Network,簡(jiǎn)稱(chēng)RAN)實(shí)現(xiàn)了Hermit多項(xiàng)式在線學(xué)習(xí)問(wèn)題。訓(xùn)練樣本產(chǎn)生方式如下，樣本數(shù)400，每個(gè)樣本輸入Xi在區(qū)間[-4,4]內(nèi)隨機(jī)產(chǎn)生（均勻分布），相關(guān)樣本輸出為F(Xi) = 1.1(1-Xi + Xi2)exp(-Xi2/2),測(cè)試樣本輸入在[-4，+4]內(nèi)以0.04為間隔等距產(chǎn)生，共201個(gè)樣本。訓(xùn)練結(jié)束后的隱節(jié)點(diǎn)為：11個(gè)，訓(xùn)練結(jié)束后的平均誤差可達(dá)：0.03
標(biāo)簽： Resource_Allocation Network Hermit RAN
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基于tms320vc55*系列DSP常用算法，包括： 1. Experiment 7A - Radix-2 Complex FFT in C 2. Experiment 7B - Radix-2 Complex FFT in C55x Assembly Language 3. Experiment 7C - Radix-2 Complex FFT and IFFT 4. Experiment 7C - Fast Convolution 5. matlab 源碼
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-- WISHBONE revB2 compiant I2C master core -- -- author: Richard Herveille -- rev. 0.1 based on simple_i2c -- rev. 0.2 april 27th 2001, fixed incomplete sensitivity list on assign_dato process (thanks to Matt Oseman) -- rev. 0.3 may 4th 2001, fixed typo rev.0.2 txt -> txr -- rev. 0.4 may 8th, added some remarks, fixed some sensitivity list issues
標(biāo)簽： Herveille WISHBONE compiant Richard
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上傳用戶：tzl1975
一、 設(shè)計(jì)目的及所需設(shè)備： 了解PC機(jī)串行口的使用；所需設(shè)備為：PC機(jī)，RS232插座及連線； 二、串行口的有關(guān)硬件資料 1. 9芯RS－232C接口標(biāo)準(zhǔn)： (1) 引腳1：CD，載體檢測(cè)； (2) 引腳2：RXD，接收數(shù)據(jù)； (3) 引腳3：TXD，發(fā)送數(shù)據(jù)； (4) 引腳4：DTR，終端準(zhǔn)備好； (5) 引腳5：信號(hào)地； (6) 引腳6：DSR，MODEM準(zhǔn)備好； (7) 引腳7：RTS，請(qǐng)求發(fā)送； (8) 引腳8：CTS，清除發(fā)送； (9) 引腳9：RI，響鈴指示；
上傳時(shí)間： 2015-07-17
上傳用戶：myworkpost
1. 仍然使用MyDatabase數(shù)據(jù)庫(kù)，用SYSDBA用戶登錄。 2. 在ISQL中，依次輸入第4章的數(shù)據(jù)表創(chuàng)建SQL語(yǔ)句；或者根據(jù)表4-1至4-8自行創(chuàng)建數(shù)據(jù)表。（可以直接使用光盤(pán)提供的MyDatabase.GDB數(shù)據(jù)庫(kù)。） 3. 使用MyDB數(shù)據(jù)庫(kù)連接，在SQL Explorer中輸入原始數(shù)據(jù)。除了表4-9和表4-10的內(nèi)容，還需要在USER_PASS表中設(shè)置一個(gè)權(quán)限為’3’的JWC用戶名，用于課程的調(diào)度；設(shè)置若干個(gè)教師的賬號(hào)（需要在TEACHER數(shù)據(jù)表中設(shè)置相應(yīng)信息），權(quán)限為’2’；若干學(xué)生的賬號(hào)。 4. 修改源代碼中數(shù)據(jù)庫(kù)連接組件Database的參數(shù)，包括服務(wù)器地址、登錄用戶名和默認(rèn)密碼。
標(biāo)簽： MyDatabase 數(shù)據(jù)庫(kù)
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