OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎(chǔ)上,結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出,最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化,所以,IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間: 2016-08-16
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用一個(gè)C語(yǔ)言來(lái)測(cè)試4X4按鍵功能是否正常工作
標(biāo)簽: 4X4 正
上傳時(shí)間: 2017-07-25
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PC電源測(cè)試系統(tǒng)chroma8000簡(jiǎn)介
標(biāo)簽: chroma 8000 電源測(cè)試系統(tǒng)
上傳時(shí)間: 2013-11-08
上傳用戶:xiehao13
告天下C++信徒
標(biāo)簽:
上傳時(shí)間: 2014-11-27
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此為philip 1362 USB DOS下的驅(qū)動(dòng)程式包, 已經(jīng)共測(cè)試並內(nèi)含有說(shuō)明文件
標(biāo)簽: philip 1362 USB DOS
上傳時(shí)間: 2015-04-21
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簡(jiǎn)單的串列埠自我測(cè)試持式 測(cè)試硬體電路是否正確
標(biāo)簽: 正
上傳時(shí)間: 2015-04-25
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使用J2ME MIDP2.0實(shí)做AODV協(xié)定(RFC3561),測(cè)試平臺(tái)為兩種PDA:PalmOS和PacketPC2003
標(biāo)簽: PacketPC PalmOS J2ME AODV
上傳時(shí)間: 2014-09-03
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GSMGPRSRFORUM相關(guān)信息測(cè)試與結(jié)過(guò)
標(biāo)簽: GSMGPRSRFORUM
上傳時(shí)間: 2015-05-20
上傳用戶:jqy_china
這是一篇介紹藍(lán)芽收發(fā)器IC測(cè)試的相關(guān)文章,蠻有用的文章
上傳時(shí)間: 2013-12-14
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SSL測(cè)試技朮說(shuō)明文檔﹐解決SSL測(cè)試相關(guān)問(wèn)題﹐英文。
標(biāo)簽: SSL 英文
上傳時(shí)間: 2013-12-09
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