改善WEDM-HS 加工表面粗糙度值的工藝探討
改善WEDM-HS 加工表面粗糙度值的工藝探討...
改善WEDM-HS 加工表面粗糙度值的工藝探討...
采用軟件校正的TMS320f2812內(nèi)置ADC采樣值方案...
高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn),給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實現(xiàn)了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。 本文實現(xiàn)了基于FPG...
隨著現(xiàn)代通信與信號處理技術(shù)的不斷發(fā)展,對于高速高精度AD轉(zhuǎn)換器的需求越來越大。但是,隨著集成電路工藝中電路特征線寬的不斷減小,在傳統(tǒng)單通道ADC框架下同時實現(xiàn)高速、高精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換愈加困難。此時,時分...
高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn),給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實現(xiàn)了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。本文實現(xiàn)了基于FPGA...
LM3S系列ADC例程:多種采樣觸發(fā)方式...
LM3S系列ADC例程:內(nèi)置的溫度傳感器...
freescale k40/k60 adc 例程...
freescale k40/k60 cortex m4 pdb-adc 例程...
STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 keil&iar例程...