采用軟件校正的TMS320f2812內置ADC采樣值方案.rar
采用軟件校正的TMS320f2812內置ADC采樣值方案...
采用軟件校正的TMS320f2812內置ADC采樣值方案...
高性能ADC產品的出現,給混合信號測試領域帶來前所未有的挑戰。并行ADC測試方案實現了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。 本文實現了基于FPG...
隨著現代通信與信號處理技術的不斷發展,對于高速高精度AD轉換器的需求越來越大。但是,隨著集成電路工藝中電路特征線寬的不斷減小,在傳統單通道ADC框架下同時實現高速、高精度的數模轉換愈加困難。此時,時分...
高性能ADC產品的出現,給混合信號測試領域帶來前所未有的挑戰。并行ADC測試方案實現了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。本文實現了基于FPGA...
LM3S系列ADC例程:多種采樣觸發方式...
LM3S系列ADC例程:內置的溫度傳感器...
freescale k40/k60 adc 例程...
freescale k40/k60 cortex m4 pdb-adc 例程...
STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 keil&iar例程...
DSP的ADC原理,對軟硬件AD采樣精度有幫助...